日本oji-keisoku光轴测量装置配向角位相差 PAM-PR300 特点介绍

对光学薄膜偏振轴方位、取向角及相位差值进行测定

无需个人差异，可简便且短时间内测量

■特点

测定方式

旋转偏光镜方式

平行尼科耳旋转方式

交叉尼科耳旋转方式

测定波长

590nm

选项：450nm、550nm、630nm

样品尺寸

□ 30～250mm

厚度20mm以下

测定面积

33mm2（5.8mm见方：感光体面）

测定项目

偏光 轴向方位、方位角、相位差

日本oji-keisoku光轴测量装置配向角位相差 PAM-PR300 规格参数

测定項目

偏光軸方位、配向角、位相差

测定対象

光学薄膜、偏振板

测定原理

旋转检光子法、平行二卷旋转法、正交二卷旋转方法

測定時間

约4秒（偏振轴测量）

测定波長

590nm（可选=450nm、630nm等）

样品尺寸

30mm~250mm，t=20mm以下

系统配置

测定装置主体、光源装置、笔记本电脑（Windows10）

主体尺寸

W380XH390 XD610 mm

本体重量

27kg

偏振轴方位测定相位差测定方式旋转检光子法平行尼可旋转法测定项目吸收轴方位或透过轴方位相位差值、取向角构成角度分辨率0.001°0.0 01°角度精度（3σ）0.006°0.017°相位差分辨率N/A 0.01nm相位差精度（3σ）N/A 0.03nm光（LED）固定试样台检光子A