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SPD2200 新型單光子偵測(cè)器特性分析設(shè)備
- 公司名稱 光焱科技股份有限公司
- 品牌 Enlitech
- 型號(hào) SPD2200
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/3/27 12:01:04
- 訪問次數(shù) 4281
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價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,汽車及零部件 |
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暗計(jì)數(shù)(Dark?Count?Rate) | DCR | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
測(cè)量模式 | 咨詢光焱科技專家 |
特色
SPD2200具備全光譜性能測(cè)試包含:
*全光譜光譜回應(yīng)(SR, Spectral Responsivity)
*全光譜量子效率(EQE, External Quantum Efficiency)
*全光譜光子探測(cè)率(PDP, Photon Detection Probability)
*暗計(jì)數(shù)DCR (Dark Count Rate)
*崩潰電壓BDV (Break-Down Voltage)
SPD2200亦能夠測(cè)試SPD的單光子辨析特性分析,包含:
*Jitter
*Afterpulsing probability
*Diffusion tail
*SNR
SPD2200整合了所有*進(jìn)光學(xué)與電學(xué)系統(tǒng),搭配光焱科技多年光感測(cè)器測(cè)試與分析的經(jīng)驗(yàn),提供完整與便利的軟體控制介面與分析功能。 SPD2200可幫助您節(jié)省系統(tǒng)搭設(shè)的時(shí)間成本,並降低測(cè)試結(jié)果的不確定性。 加快產(chǎn)品的開發(fā)週期,提升產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)力。
實(shí)證
*SPAD的暗計(jì)數(shù)與偏壓關(guān)係圖
*SPAD暗計(jì)數(shù)與崩潰電壓
*在不同電壓下SPAD光子探測(cè)效率的PDE光譜
*SPAD的Jitter測(cè)量
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