产地类别 | 进口 | 应用领域 | 电子/电池,电气,综合 |
---|---|---|---|
晶圆尺寸 | 4寸、6寸、8寸、12寸 | 检测内容 | TTV,?Bow,?Warp,?Thickness,?TIR |
产能 | 280WPH | 晶圆厚度测试范围 | 20um~2500um |
分辨率 | 0.002um |
晶圆几何形貌及参数自动检测机PLS- F1000/ F1002 是一款专门测量晶圆厚度、TTV, Bow, Warp, TIR, Sori, Sag, LTV等参数的晶圆形貌自动检测及分选机。
1、适用晶圆 Wafer Size
• 4寸、6寸、8寸、12寸晶圆
2、检测内容与结果输出 Measurements &Export
• 检测内容:TTV, Bow, Warp, Thickness, TIR, Sori, Sag, LTV(Fullmap测试)
3、检测关键指标 Measurement Key Capability
• 产能(4寸、4线米字):280WPH
• 晶圆厚度测试范围:20um~2500um
• 检测分辨率:0.002um
• 重复性:3σ≤0.1um
• Bow/Warp 重复性 : 3σ≤0.5um
• 选配 OCR 识别 寻边功能 MEMS等扩展
• 具光谱共焦双探头对射传感器以及红外干涉点传感器厚度測量技術
• 可依需求提供客制单机 wafer mapping 机
4、适用范围 Film Size &Applied Situation
• 白膜、蓝膜、黑膜及多层复杂薄膜结构
• 可用于50mm到450mm晶圆及基底,也可根据需求定制
• 应用范围包括刻蚀、化学气相沉积、光刻、化学机械抛光和晶圆键合等工艺段的测量
红外干涉中心点与边缘各层厚度实时画面
晶圆形貌检测结果三维图
以上是晶圆几何形貌及参数自动检测机的介绍。
相关技术文章
- ThetaMetrisis 膜厚仪应用说明
- 美国FSM高温薄膜应力及翘曲度测
- WAGO 750-600和万可750-602工业
- ANALYZER3 Φ6是用激光检测,
- 一种新的内孔表面缺陷检测方法
- 泽攸ZEM 系列台式电镜助力“光纤
- 3D测量影像仪空间精度标定方法优
- 应用案例|微型 BUMPS 测量难题?
- 750-454万可750-455模拟量???/a>
-
提示
×*您想获取产品的资料:
- 价格、产地、生产者、用途、性能
- 生产日期、有效期限、检验合格证明
- 规格、等级、主要成份
- 使用方法说明书、售后服务
- 其他
个人信息:
- *联系人
- 公司名称
- *联系电话
- 联系邮箱