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HANWA ESD測試全部設(shè)備簡介

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
產(chǎn)品標(biāo)簽

測試機(jī)測試設(shè)備

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南京芯測軟件技術(shù)有限公司,專業(yè)打造半導(dǎo)體晶圓級(jí)測試及芯片檢測等系統(tǒng)集成平臺(tái)。公司致力為客戶提供半導(dǎo)體測試設(shè)備國產(chǎn)化改造,以及系統(tǒng)集成的一站式平臺(tái)服務(wù)。公司的目標(biāo)是成為國內(nèi)晶圓級(jí)在片測試,器件測量系統(tǒng)軟件、硬件的先進(jìn)供應(yīng)商,以滿足國內(nèi)用戶需求,開發(fā)半導(dǎo)體測試設(shè)備和系統(tǒng)集成軟件定制化服務(wù)。

南京芯測的在專注于在片測試系統(tǒng)設(shè)備經(jīng)銷與晶圓在片測試軟件的研發(fā)。涉及的設(shè)備包括:手動(dòng)探針臺(tái)、半自動(dòng)探針臺(tái)、全自動(dòng)探針臺(tái)、硅光探針臺(tái)、射頻探針臺(tái)、高低溫探針臺(tái)、除此之外涉及經(jīng)銷芯片ESD測試系統(tǒng)、封裝及工藝檢測設(shè)備等。我們服務(wù)的領(lǐng)域涵蓋半導(dǎo)體晶圓級(jí)在片測試、射頻微波器件測量,大功率器件測試、微組裝封裝工藝檢測、失效分析、材料測試等應(yīng)用行業(yè)

 

 

 

 

探針臺(tái),芯片ESD測試設(shè)備,TLP測試設(shè)備,CDM測試設(shè)備

應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣
     
產(chǎn)品名/型號(hào) 設(shè)備說明 設(shè)備介紹

HED-G5000
HED-G5000

全自動(dòng)靜電破壞裝置的高性能版本出現(xiàn)了

測試符合國際標(biāo)準(zhǔn)是可能的。
(JEDEC,ESDA,AEC, JEITA)

該系統(tǒng)*的短路放電電路由原機(jī)設(shè)計(jì)成為可能。

短路可最大限度地減小電感和電容對(duì)數(shù)據(jù)的影響。
另外,通過使用單個(gè)電路,保證了每個(gè)器件引腳的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性。

 

HED-S5000-DCPC
HED-S5000R-D

全自動(dòng)靜電放電設(shè)備的傳統(tǒng)機(jī)臺(tái)

此設(shè)備是符合日本及國際標(biāo)準(zhǔn)的高可靠性設(shè)備

(滿足JEITA / ESDA / JEDEC規(guī)格)可用于閂鎖測試,并適用脈沖電流法·電源過電壓·ESD脈沖印加法




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HED-S5000
HED-S5000R

銷售實(shí)績.1

可以通過連接曲線圖示儀來輕松地判斷pass/fail

可根據(jù)測試管腳數(shù)以及測試用途來選擇型號(hào)

 

HED-N5000-DCPC
HED-N5000-DCPC

多管腳高性能全自動(dòng)靜電放電測試機(jī)

最大可進(jìn)行8個(gè)器件的測試。最大測試管腳數(shù)1024Pin

雖然有一定的限制,但是可以復(fù)數(shù)同時(shí)印加

是滿足日本、國際規(guī)格的高可靠性設(shè)備

(滿足JEITA/ESDA/JEDEC規(guī)格) 可用于閂鎖測試,并適用脈沖電流法·電源過電壓·ESD印加法

也可通過DC測試判斷pass/fail,以及作為可添加選項(xiàng),可以利用向量來進(jìn)行功能測試


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HCE-5000
HCE-5000

桌上型ESD測試儀

測試操作簡單的便攜式靜電放電測試設(shè)備

兼容泄露測試功能,可單獨(dú)利用本設(shè)備進(jìn)行ESD的破壞判斷




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HPE-5000
HPE-5000

便攜式ESD測試儀

本設(shè)備是測試半導(dǎo)體器件的靜電破壞強(qiáng)度的設(shè)備

作為便攜式小型ESD測試機(jī)的系列型號(hào),更輕,更小,更加低成本

與本公司傳統(tǒng)小型ESD測試機(jī)同樣,用來特化兩管腳間的靜電印加,維持與通用設(shè)備同等的基本性能(利用ESD印加與漏電流測試來判斷pass/fail)

 

 

HANWA ESD測試全部設(shè)備簡介

HANWA ESD測試全部設(shè)備簡介

 

 



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