x射线镀层厚度测试仪XD-1000应用领域

X射线镀层测厚仪电阻电容、螺栓、螺母、弹簧类紧固件、PCB、FPC、LED、SMD、连接器、高压开关、天线、半导体、五金卫浴、汽车零部件、功能性电镀件、珠宝、首饰、装饰品、合金等

产品硬件

(1) X光管(2)Si-PIN电制冷半导体探测器(3)放大电路  (4)高清晰摄像头(5)高压系统  (6)单样品腔

工作环境

环境温度要求：15℃-30℃

环境相对湿度：<70%

眼镜架镀层测厚仪工作电源：交流220±5V

周围不能有强电磁干扰。

x射线镀层厚度测试仪XD-1000应用领域

x射线镀层厚度测试仪广泛应用在黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定，主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业,同时在电子电器、五金工具、国家电网企业、高压开关、卫浴等企业广泛应用。

标准配置

开放式样品腔。

精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探测器。

信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

高度传感器

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计算机及喷墨打印机

工作原理

X光方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射，这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量（若密度已知，则为覆盖层线性厚度）和二次辐射强度之间存在一定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。若覆盖层材料的密度已知，同时又给出实际的密度，则这样的标准块就能给出覆盖层线性厚度。

x射线镀层厚度测试仪XD-1000性能特点

x射线镀层厚度测试仪满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护