1、仪器概述

XD-1000 镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。主要应用于：多金属镀层（镀镍、镀锌、镀铜、镀金、镀银等）的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

多镀层检测仪性能优势

精密的三维移动平台

的样品观测系统

*图像识别

轻松实现深槽样品的检测

四种微孔聚焦准直器，自动切换

双重?；ご胧迪治薹旆雷?/span>

采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度

全自动智能控制方式，一键式操作!

开机自动退出自检、复位

开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样

关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦

直接点击全景或局部景图像选取测试点

点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示测试结果

多镀层检测仪技术指标

分析元素范围：从硫（S）到铀（U）

同时检测元素：多24个元素，多达五层镀层

检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm

分析含量：一般为2ppm到99.9%

镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1%

稳定性：可达0.1%

SDD探测器：分辨率低至135eV

采用*微孔准直技术，小孔径达0.1mm，小光斑达0.1mm

样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头

准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与

Ф0.3mm四种准直器组合

仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

样品台尺寸：393(W)x 258 (D）mm

X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平台重复定位精度 ：小于0.1um

操作环境湿度：≤90%

操作环境温度 15℃～30℃

4、测试实例

在保证计数率的情况下能有效分辨相近元素，大大提高测试稳定性、降低检测限。

某国外仪器检测谱图

11次测量结果（Au-Cu)的稳定性数据对比如下：

次数        XD-1000        行业内其他仪器

1       0.042        0.0481

2       0.043        0.0459

3       0.043        0.0461

4       0.0412      0.0432

5       0.0429      0.0458

6       0.0436      0.0458

7       0.0427      0.0483

8       0.0425      0.045

9       0.0416      0.0455

10     0.0432      0.0485

11     0.0422      0.043

平均值   0.0425      0.0459

标准偏差        0.0007      0.0019

相对标准偏差        1.70%       4.03%

极差        0.0024      0.0055

1、仪器概述

    镀层膜厚是电镀产品的重要技术指标，关系到产品的质量以及生产成本。XD-1000镀层测厚仪是乔邦集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款膜厚测试仪器，配备移动平台，可全自动软件操作，并进行多点测试，检测结果更加精准。

2、性能优势

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

小φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

3、技术指标

元素分析范围从硫（S）到铀（U）中间的任意金属镀层

一次可同时分析多达五层镀层

薄可测试0.005μm

分析含量一般为2ppm到99.9%

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

任意多个可选择的分析和识别模型

相互独立的基体效应校正模型

多变量非线性回收程序

长期工作稳定性高

度适应范围为15℃至30℃

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源

仪器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm

重量：90 kg

4、测试实例

镀镍器件是比较常见的电镀器件，其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。

以下使用XD-1000仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度，七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行定位测试，其测试位置如图。

铜镀镍件X射线荧光测试谱图

样 品 名        成分Ni(%)        镀层Ni(um)

吊扣        100  19.321

吊扣2#    100  19.665

吊扣3#    100  18.846

吊扣4#    100  19.302

吊扣5#    100  18.971

吊扣6#    100  19.031

吊扣7#    100  19.146

平均值   100  19.18314

标准偏差        0       0.273409

相对标准偏差        0       1.425257

铜镀镍件测试值

结论

实验表明，使用XD-1000仪器对镀件膜厚测试，结果准确度高，速度快（几十秒），其测试效果*可以和显微镜测试法媲美。