XTU型国产x射线荧光测厚仪

X射线荧光测厚仪性能优势

新款XTU射线荧光测厚仪秉承了上一代的优点，在此基础上设计了三维移动平台，*样品观测系统和图像识别功能，满足了槽状样品的测试和不同规格样品的测试，同时加上大面积的高分辨率的探测器，大大提高了准确度，为客户提供更的测试，从而降低产品的成本，提高产品的竞争力。

X射线荧光测厚仪技术参数

可以分析从硫到铀之间的元素，同时可以测试24种元素之多，含量范围一般从2个PPM到百分之99.9；镀层厚度一般在50μm以内，不同材质略有差异，*SDD探测器，高清的工业摄像头，仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

样品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm

部分产品

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应用领域

x射线荧光测厚仪主要应该用在电子电器（线路板/PCB）、五金工具、电镀加工、制冷设备、半导体、五金配件、端子连接器、腔体等企业中。