原位拉伸臺(tái)
- 公司名稱 上海納騰儀器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/6/17 17:28:49
- 訪問次數(shù) 4433
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價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 其他 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
原位拉伸臺(tái)
Swift原位拉伸試樣臺(tái)也可立使用測(cè)定材料力學(xué)參數(shù);同時(shí)由于結(jié)構(gòu)緊湊微小、充分考慮了真空兼容性和電磁兼容性,因此可實(shí)現(xiàn)與金相顯微鏡、掃描電鏡、拉曼光譜儀、X射線衍射儀、原子力顯微鏡等顯微成像設(shè)備的兼容,所采用的超低速準(zhǔn)靜態(tài)加載方式有利于在成像儀器下對(duì)載荷作用下材料細(xì)微的變形損傷變化狀況進(jìn)行連續(xù)的可視化原位監(jiān)測(cè),便于系統(tǒng)深入的研究揭示載荷作用、材料變形損傷機(jī)制與微觀結(jié)構(gòu)變化間的規(guī)律。
原位拉伸臺(tái)應(yīng)用
Swift拉伸試驗(yàn)臺(tái)是通用的,能夠在各種材料上進(jìn)行各種機(jī)械測(cè)試。在靜態(tài)或動(dòng)態(tài)條件下觀察材料表面納米級(jí)微觀形態(tài)和結(jié)構(gòu)變化。通過實(shí)時(shí)獲取的載荷,形變和溫度等數(shù)據(jù),并結(jié)合掃描電子顯微鏡提供的材料微觀結(jié)構(gòu)分析數(shù)據(jù),實(shí)現(xiàn)了定量分析材料微觀力學(xué)性質(zhì),相變行為,取向變化,裂紋萌生和擴(kuò)展,材料疲勞和斷裂機(jī)制,材料彎曲機(jī)制,高溫蠕變性,分層,形成滑移面以及脫落等現(xiàn)象。
- 半導(dǎo)體器件,薄膜
- 硬質(zhì)涂層,電鍍層
- 金屬材料,陶瓷材料
- 玻璃,塊體材料
- 復(fù)合材料,聚合物材料
- 電鍍層,釬焊或焊接接頭
- 礦物,木材
- 有機(jī)材料等等
測(cè)試方法
拉伸試樣臺(tái)型號(hào)
Swift開發(fā)了一系列基礎(chǔ)拉伸試樣臺(tái),可以實(shí)現(xiàn)*定制和增強(qiáng),以適應(yīng)任何應(yīng)用。
型號(hào) A 傾斜臺(tái)
該模型設(shè)計(jì)了一個(gè)帶有旋轉(zhuǎn)和傾斜工作臺(tái),測(cè)試樣品可以在任意一個(gè)0°平角或70°EBSD角度。標(biāo)準(zhǔn)加載裝置大加載力5KN,可升級(jí)10kN測(cè)壓元件。樣品臺(tái)行程26mm。

型號(hào) B 試驗(yàn)臺(tái)
型號(hào)B試驗(yàn)臺(tái)具有較低的外形系數(shù)以適合受限的SEM室,并且可以在0°或70 °EBSD下測(cè)試樣品。負(fù)載范圍可達(dá)5kN。樣品臺(tái)行程可達(dá)26mm。
型號(hào) C 試驗(yàn)臺(tái)
C型微型拉伸臺(tái)是專門為小型或臺(tái)式SEM開發(fā)的,并配置為在0°或70 °EBSD下測(cè)試樣品。負(fù)載范圍高達(dá)2kN。樣品臺(tái)行程可達(dá)16mm。
控制器和軟件
Swift儀器的拉伸臺(tái)采用計(jì)算機(jī)控制的工作流程設(shè)計(jì),使操作簡(jiǎn)單高效。
控制器
Swift Instruments的控制器和軟件為拉伸臺(tái)和其他選項(xiàng)提供了一個(gè)計(jì)算機(jī)界面,并與運(yùn)行Windows 10的臺(tái)式電腦、筆記本電腦和平板電腦兼容。

軟件
程序測(cè)試?yán)掏ㄟ^一個(gè)拖放界面,能夠控制力和溫度。記錄試驗(yàn)荷載、位移和溫度,自動(dòng)計(jì)算應(yīng)力和應(yīng)變。測(cè)試數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出進(jìn)行外部分析。
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