瑞士TESA高精度TESA-μHITE小量程测高仪

产品简介：

 TESA µ-HITE测量站各方面远超测高仪. 这种紧凑、坚固且高精度的仪器专门设计用于在靠近加工中心的车间现场的测量操作, 以及更多的控制和高要求检查点,诸如实验室.

产品特点：

 该仪器的测量范围为100mm, 这种“一体式”台站特别适合于在靠近生产线的位置来测量控制小零件.它甚至可以取代传统的1D 测头来使用，这种测头测量范围非常有限并且通常只能用于单个应用.

它与 TESA MICRO-HITE 测高仪控制面板结合使用,使得该系统可显著提升生产力. 事实上, 其'学习' 模式加上其的执行速度可以对生产线的产出有积极影响.

TESA µ-HITE 因此代表一种简便的融合解决方案 ,即使用一种产品适配各种应用和用户环境的同时保证其灵活性不受影响.

技术参数：

 应用范围 [mm]
*大允许误差 [µm]
00730502
0 - 160
轴向: 1 - 偏置: 2
轴向: 0.5 - 偏置: 1 重复性 (2σ) [µm]
触发力 [N] 0.6 ± 0.2 或 1.00 ± 0.2
面板 [mm]
屏幕: 84x152
键盘: 背光
分辨力 [mm] 0.001 / 0.0001
00730503
0 - 160
轴向: 1 - 偏置: 2
轴向: 0.5 - 偏置: 1
0.6 ± 0.2 或 1.00 ± 0.2
屏幕: 84x152
键盘: 背光
0,001 / 0,0001
重量 [kg]
面板 + 适配盒: 1.5 – 测头: 2.5
面板 + 适配盒: 1.5 – 测头: 2.5
花岗石 + 立柱 + 夹持器: 16.2
TESA µ-HITE
用于车间或实验室
电动位移
2 种测针配置
测量力可调

 瑞士TESA高精度TESA-μHITE小量程测高仪

产品尺寸图：