在工业过程控制分析中，分析仪器的灵敏度、精度及分析速度是至关重要的。SPECTROiQ II 在这一领域已建立了相应标准。全新的SPECTROiQ II在此基础上进一步改进了技术，提高了操作简便性和可靠性。

在许多情况下，偏振X射线荧光光谱仪SPECTRO iQ II在测定主要成分的精度及重要痕量元素的灵敏度可以同价格昂贵的波长色散型X荧光光谱仪相媲美，以往只能用波长色散型X荧光光谱仪完成的分析任务，现在通过SPECTROiQ II*的偏振能量色散型仪器即可出色地完成。

偏振X射线荧光光谱仪SPECTRO iQ II 采用低能量X射线管和新开发的C－Force偏振光学系统，确保了对样品中元素的佳激发。使用Pd准直器，SPECTROiQ II
具有分析低含量Zr、Mo等元素的能力。在仅仅几百秒的分析时间内，即可测定油中的超低硫含量。因此，新开发出的SPECTROiQ II
具有佳的分析轻元素的能力。

SPECTROiQ II软件的特点：简单明了。图文式用户操作界面，使日常操作所相关的重要功能清晰明确。触屏操作，更为简单直观。