WPA-NIR 紅外應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 北京歐屹科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 WPA-NIR
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/7/22 18:34:30
- 訪問次數(shù) 4606
產(chǎn)品標(biāo)簽
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
紅外應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)主要特點(diǎn)：
硫系，紅外樹脂等材料對可見光不透過，這樣的樣品殘余應(yīng)力評估很難實(shí)現(xiàn)，為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測量儀，采用850nm或940nm波長，能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應(yīng)力分布。
紅外波長的雙折射/相位差面分布測量
硫系、紅外透明樹脂等的光學(xué)畸變評估
小型、簡単操作、高速測量
WPA-NIR能高速的測量/分析波長為850nm或940nm的雙折射分布
安裝既有的操作簡單和實(shí)用的軟件WPA-View
可以自由分析任意線上的相位差分布圖形、任意區(qū)域內(nèi)的平均值等的定量數(shù)據(jù)
可搭配流水線對應(yīng)的『外部控制選配』，也可應(yīng)用于量產(chǎn)現(xiàn)場
紅外應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)主要功能：
NIR波長僅需操作鼠標(biāo)數(shù)秒內(nèi)就能獲取高密度的雙折射/相位差信息
測量數(shù)據(jù)的保存/讀取簡單快捷
全部的測量結(jié)果都可以做保存/讀取，易于跟過去的測量結(jié)果做比較等
豐富的圖形創(chuàng)建功能
可以自由制作線圖形和直方圖
測量結(jié)果可以在一個(gè)圖形上做比較，也可以用CSV格式輸出
主要參數(shù)：
實(shí)際測量對比：
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