FSM128、FSM413 薄膜应力及基底翘曲测试设备和厚度测量设备
参考价 | ¥16.00 |
- 公司名称 岱美仪器技术服务(上海)有限公司
- 品牌FSM
- 型号FSM128、FSM413
- 所在地北京市
- 厂商性质代理商
- 更新时间2020/4/24 12:02:54
- 访问次数 833
套 | 16.00元 | 1000 件 可售 |
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应用领域 | 化工,能源,电子/电池,航空航天,电气 |
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*,中国区总代理—岱美仪器技术服务(上海)有限公司
FSM薄膜应力及基底翘曲测试设备和厚度测量设备
用于测量薄膜应力,基地翘曲,衬底翘曲,膜层厚度测量
产品名称:FSM 128 薄膜应力及基底翘曲测试设备
产品型号:FSM 128, 500TC, 900TC
- 简单介绍
FSM 128 薄膜应力及基底翘曲测试设备:美国Frontier Semiconductor(FSM)成立于1988年,总部位于圣何塞,多年来为半导体行业等高新行业提供各式精密的测量设备,客户遍布*, 主要产品包括:光学测量设备: 三维轮廓仪、拉曼光谱、 薄膜应力测量设备、 红外干涉厚度测量设备、电学测量设备:高温四探针测量设备、非接触式片电阻及 漏电流测量设备、金属污染分析、等效氧化层厚度分析 (EOT)
2.产品简介:
FSM128 薄膜应力及基底翘曲测试设备
在衬底镀上不同的薄膜后, 因为两者材质不一样,以及不同的材料不同温度下特性不一样, 所以会引起应力。 如应力太大会引起薄膜脱落, zui终引致组件失效或可靠性不佳的问题。 薄膜应力激光测量仪利用激光测量样本的形貌,透过比较镀膜前后衬底曲率半径的变化, 以Stoney’s Equation计算出应力, 是品检及改进工艺的有效手段。
- 快速、非接触式测量
- 128型号适用于3至8寸晶圆
128L型号适用于12寸晶圆
128G 型号适用于470 X 370mm样品,
另可按要求订做不同尺寸的样品台
- 双激光自动转换技术
如某一波长激光在样本反射度不足,系统会自动使用
另一波长激光进行扫瞄,满足不同材料的应用
- 全自动平台,可以进行2D及3D扫瞄(可选)
- 可加入更多功能满足研发的需求
电介质厚度测量
光致发光激振光谱分析
(III-V族的缺陷研究)
- 500 及 900°C高温型号可选
- 样品上有图案亦适用
3.规格:
- 测量方式: 非接触式(激光扫瞄)
- 样本尺寸:
FSM 128NT: 75 mm to 200 mm
FSM 128L: 150 mm/ 200 mm/ 300mm
FSM 128G: zui大550×650 mm
- 扫瞄方式: 高精度单次扫瞄、2D/ 3D扫瞄(可选)
- 激光强度: 根据样本反射度自动调节
- 激光波长: 650nm及780nm自动切换(其它波长可选)
- 薄膜应力范围: 1 MPa — 4 GPa
(硅片翘曲或弯曲度变化大于1 micron)
- 重复性: 1% (1 sigma)*
- 准确度: ≤ 2.5%
使用20米半径球面镜
- 设备尺寸及重量:
FSM 128: 14″(W)×22″(L)×15″(H)/ 50 lbs
FSM128L:14″(W)×26″(L)×15″/ 70 lbs
FSM128G:37″(W)×48″(D)×19″(H)/ 200 lbs
电源 : 110V/220V, 20A
FSM413 红外干涉测量设备
如果您对该产品感兴趣的话,可以给我留言!
产品名称:FSM 413 红外干涉测量设备
产品型号:FSM 413EC, FSM 413MOT,FSM 413SA DP FSM 413C2C, FSM 8108 VITE C2C
1、产品简介:
FSM 413 红外干涉测量设备
- 红外干涉测量技术, 非接触式测量
- 适用于所有可让红外线通过的材料
硅、蓝宝石、砷化镓、磷化铟、碳化硅、玻璃、石 英、聚合物…
2、应用薄膜应力及基底翘曲测试设备和厚度测量设备:
衬底厚度(不受图案硅片、有胶带、凹凸或者粘合硅片影响)
平整度
厚度变化 (TTV)
沟槽深度
过孔尺寸、深度、侧壁角度
粗糙度
薄膜厚度
环氧树脂厚度
衬底翘曲度
晶圆凸点高度(bump height)
MEMS 薄膜测量
TSV 深度、侧壁角度…
- 规格:
- 测量方式: 红外干涉(非接触式)
- 样本尺寸: 50、75、100、200、300 mm, 也可以订做客户需要的产品尺寸
- 测量厚度: 15 — 780 μm (单探头)
3 mm (双探头总厚度测量)
- 扫瞄方式: 半自动及全自动型号,
另2D/3D扫瞄(Mapping)可选
- 衬底厚度测量: TTV、平均值、*小值、*大值、公差。。。
- 粗糙度: 20 — 1000Å (RMS)
- 重复性: 0.1 μm (1 sigma)单探头*
0.8 μm (1 sigma)双探头*
- 分辨率: 10 nm
- 设备尺寸:
413-200: 26”(W) x 38” (D) x 56” (H)
413-300: 32”(W) x 46” (D) x 66” (H)
- 重量: 500 lbs
- 电源 : 110V/220VAC
- 真空: 100 mm Hg
- 样本表面光滑(一般粗糙度小于0.1μm RMS)