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化工仪器网>产品展厅>物理特性分析仪器>其它物性测试分析仪器>应力仪>FSM128、FSM413 薄膜应力及基底翘曲测试设备和厚度测量设备

FSM128、FSM413 薄膜应力及基底翘曲测试设备和厚度测量设备

参考价16.00
具体成交价以合同协议为准
规格
16.00元1000 件 可售

联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!


岱美有限公司(下面简称岱美)成立于1989年,是一间拥有多年经验的性高科技设备分销商,主要为半导体、MEMs、光通讯、数据存储、高校及研发中心提供各类测量设备、工序设备以及相应的技术支持,并与一些重要的客户建立了*合作的关系。

自1989年创立至今,岱美的产品以及各类服务、解决方案广泛地运用于中国大陆、香港、中国台湾、新加坡、泰国、马来西亚、菲律宾等地区。
主要产品包括有:EVG晶圆键合设备、EVG纳米压印设备、EVG紫外光刻机、EVG涂胶显影机、EVG硅片清洗机、EVG超薄晶圆处理设备、压力计、流量计、等离子电源、非接触式光学三坐标测量仪、薄膜厚度检测仪、电容式位移传感器、振动样品磁强计 (VSM)、粗糙度检测仪、电镜 (SEM)、透镜 (TEM)、原子力显微镜 (AFM)、防振台系统、三维原子探针材料分析仪 (Atom Probe)、激光干涉仪、平面/球面大口径动态激光干涉仪、氦质谱检漏仪、紫外线固化仪、碳纳米管生长设备等。
岱美中国拥有八十多名训练有素的工程师,能够为各地区用户作出快捷、可靠的技术支持和维修服务;为确保他们的专业知识得以更新及并适应新的要求,岱美定期委派工程师前往海外接受专项技术训练,务求为顾客提供更高质素的售后服务及技术支持。
总部位于中国香港的岱美分别在新加坡、泰国、中国台湾、马来西亚、菲律宾及中国大陆(上海、东莞及北京)设立了分公司及办事处,以带给客户更快捷更的销售及维修服务。
我们真诚希望和业界的用户互相合作,共同发展?。?/span>     

膜厚测量仪、隔震台、磁强计

应用领域 化工,能源,电子/电池,航空航天,电气

*,中国区总代理—岱美仪器技术服务(上海)有限公司

 

FSM薄膜应力及基底翘曲测试设备和厚度测量设备

 用于测量薄膜应力,基地翘曲,衬底翘曲,膜层厚度测量

 

 

产品名称:FSM 128 薄膜应力及基底翘曲测试设备

产品型号:FSM 128, 500TC, 900TC

 

  1. 简单介绍

FSM 128 薄膜应力及基底翘曲测试设备:美国Frontier Semiconductor(FSM)成立于1988年,总部位于圣何塞,多年来为半导体行业等高新行业提供各式精密的测量设备,客户遍布*, 主要产品包括:光学测量设备: 三维轮廓仪、拉曼光谱、 薄膜应力测量设备、 红外干涉厚度测量设备、电学测量设备:高温四探针测量设备、非接触式片电阻及 漏电流测量设备、金属污染分析、等效氧化层厚度分析 (EOT)

 

2.产品简介:

FSM128 薄膜应力及基底翘曲测试设备

在衬底镀上不同的薄膜后, 因为两者材质不一样,以及不同的材料不同温度下特性不一样, 所以会引起应力。 如应力太大会引起薄膜脱落, zui终引致组件失效或可靠性不佳的问题。 薄膜应力激光测量仪利用激光测量样本的形貌,透过比较镀膜前后衬底曲率半径的变化, 以Stoney’s Equation计算出应力, 是品检及改进工艺的有效手段。

 

  1. 快速、非接触式测量
  2. 128型号适用于3至8寸晶圆

128L型号适用于12寸晶圆

128G 型号适用于470 X 370mm样品,

另可按要求订做不同尺寸的样品台 

  1. 双激光自动转换技术

如某一波长激光在样本反射度不足,系统会自动使用

另一波长激光进行扫瞄,满足不同材料的应用

  1. 全自动平台,可以进行2D及3D扫瞄(可选)
  2. 可加入更多功能满足研发的需求

电介质厚度测量

光致发光激振光谱分析

(III-V族的缺陷研究)

  1. 500 及 900°C高温型号可选
  2. 样品上有图案亦适用

 

 

3.规格:

 

  1. 测量方式: 非接触式(激光扫瞄)
  2. 样本尺寸: 

FSM 128NT: 75 mm to 200 mm

FSM 128L: 150 mm/ 200 mm/ 300mm

FSM 128G: zui大550×650 mm

  1. 扫瞄方式: 高精度单次扫瞄、2D/ 3D扫瞄(可选)
  2. 激光强度: 根据样本反射度自动调节
  3. 激光波长:  650nm及780nm自动切换(其它波长可选)
  4. 薄膜应力范围: 1 MPa — 4 GPa

(硅片翘曲或弯曲度变化大于1 micron)

  1. 重复性: 1% (1 sigma)*
  2. 准确度: ≤ 2.5%

使用20米半径球面镜

  1. 设备尺寸及重量:

FSM 128: 14″(W)×22″(L)×15″(H)/ 50 lbs

FSM128L:14″(W)×26″(L)×15″/ 70 lbs

FSM128G:37″(W)×48″(D)×19″(H)/ 200 lbs

电源 : 110V/220V, 20A

 

 

FSM413 红外干涉测量设备

如果您对该产品感兴趣的话,可以给我留言!

 

产品名称:FSM 413 红外干涉测量设备

产品型号:FSM 413EC, FSM 413MOT,FSM 413SA DP FSM 413C2C, FSM 8108 VITE C2C

 

 

1、产品简介:

FSM 413 红外干涉测量设备

  1. 红外干涉测量技术, 非接触式测量
  2. 适用于所有可让红外线通过的材料

硅、蓝宝石、砷化镓、磷化铟、碳化硅、玻璃、石  英、聚合物…

 

2、应用薄膜应力及基底翘曲测试设备和厚度测量设备

    衬底厚度(不受图案硅片、有胶带、凹凸或者粘合硅片影响)

    平整度

    厚度变化 (TTV)

    沟槽深度

    过孔尺寸、深度、侧壁角度

    粗糙度

    薄膜厚度

    环氧树脂厚度

    衬底翘曲度

    晶圆凸点高度(bump height)

    MEMS 薄膜测量

    TSV 深度、侧壁角度…

 

  1. 规格:

 

  1. 测量方式: 红外干涉(非接触式)
  2. 样本尺寸:  50、75、100、200、300 mm, 也可以订做客户需要的产品尺寸
  3. 测量厚度: 15 — 780 μm (单探头)

          3 mm (双探头总厚度测量)

  1. 扫瞄方式: 半自动及全自动型号,

         另2D/3D扫瞄(Mapping)可选

  1. 衬底厚度测量: TTV、平均值、*小值、*大值、公差。。。
  2. 粗糙度: 20 — 1000Å (RMS)
  3. 重复性: 0.1 μm (1 sigma)单探头*

       0.8 μm (1 sigma)双探头*

  1. 分辨率: 10 nm
  2. 设备尺寸:

413-200: 26”(W) x 38 (D) x 56 (H)

413-300: 32”(W) x 46 (D) x 66 (H) 

  1. 重量: 500 lbs
  2. 电源 : 110V/220VAC     
  3. 真空: 100 mm Hg
  4. 样本表面光滑(一般粗糙度小于0.1μm RMS)


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