蔡司工業(yè)ct METROTOM 光學(xué)斷層掃描儀采用計算機斷層掃描技術(shù)，在不損傷被測物體的情況下，以二維斷層攝影圖像或三維立體圖像的形式清晰、準(zhǔn)確、直觀地顯示被測物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、成分、材料和缺陷狀態(tài)，小可檢測缺陷為4.5微米。

1917年，奧地利數(shù)學(xué)家雷登(J. Radon)提出可通過從各方向的投影，并用數(shù)學(xué)方法計算出一幅二維或三維的重建圖像的理論。后來，考邁克于1967年完成了CT圖像重建相關(guān)的數(shù)學(xué)問題。亨斯菲爾德在英國EMI實驗中心進行了相關(guān)的計算機和重建技術(shù)的研究，重建出圖像。1971年誕生了*臺CT裝置。

　　CT是用X射線束對一定厚度的層面進行掃描，由探測器接受透過該層面的X射線，轉(zhuǎn)變?yōu)榭梢姽夂?，由光電轉(zhuǎn)換變?yōu)殡娦盘?，再?jīng)模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)為數(shù)字，輸入計算機處理。對于材料學(xué)領(lǐng)域，CT的成像原理是根據(jù)待測樣品內(nèi)部不同相和成分的密度以及原子系數(shù)的不同，對X射線的吸收能力有強有弱從而造成成像的明暗差別，進行不同組分的分析。CT機結(jié)構(gòu)包括X射線發(fā)生部分(高壓發(fā)生器、X線管、冷卻系統(tǒng)、準(zhǔn)直器和楔形濾過器/板)、X線檢測部分(探測器，模數(shù)、數(shù)模轉(zhuǎn)換器)、機械運動部分(掃描機架、滑環(huán))、計算機部分(主機及陣列處理器)及圖像顯示和存儲部分(監(jiān)視器、存儲器)、工作站等。

常熟蔡司工業(yè)CT用一次掃描替換多次檢查
3D斷層攝影的一個重要優(yōu)勢是它能夠取代多次復(fù)雜的單獨檢查。只需一次掃描

就可以檢查尺寸變化、不連續(xù)性、夾雜物和各種變形。幾秒鐘的循環(huán)時間是可

能的。還有一個額外的好處:結(jié)果會被蔡司VoluMax自動記錄下來

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面(ZEISS METROTOM操作系統(tǒng))已被簡化，因此經(jīng)過培訓(xùn)的生產(chǎn)工人可以輕松、

安全地操作電腦系統(tǒng)。蔡司卡呂普索和蔡司計算機斷層顯像軟件可用于計算機

斷層數(shù)據(jù)的計量評估?？梢允褂肸EISS PiWeb質(zhì)量數(shù)據(jù)系統(tǒng)進一步處理結(jié)果。

常熟蔡司工業(yè)CT：被測零件在放到工作臺上檢測之前,應(yīng)先清洗去毛刺,防止在加工完成后零件表面殘留的冷卻液及加工殘留物影響測量機的測量精度及測尖使用壽命。

蔡司工業(yè)ct METROTOM 光學(xué)斷層掃描儀CT掃描即三維X射線掃描是以非破壞性X射線透視技術(shù)(簡稱CT)，將待測物體做360°自轉(zhuǎn)，通過單一軸面的射線穿透被測物體，根據(jù)被測物體各部分對射線的吸收與透射率不同，收集每個角度的穿透圖像，之后利用電腦運算重構(gòu)出待測物體的實體圖像。