| 产地类别 | 进口 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 仪器种类 | 台式 | 应用领域 | 食品/农产品 |
福斯Alphatec™ FNO谷物面粉降落数值分析仪
Alphatec FNo 提供了一种安全现代的标准降落数值分析方法，可用于分析谷物发芽损伤的程度和面粉的酶活性。Alphatec™ 配备锤式磨和冷却系统，组合成一套整体化解决方案，与谷物分析仪 Infratec™ 来自同样的制造流程。
在谷物收购中给出了安全和现代的标准降落数值测定方法，可用于评价谷物发芽损伤的程度和在烘焙和发芽前面粉和麦粒中的酶活性。降落数值系统是谷物交易过程中检测谷物完整性的重要测试方法，是反映谷物中酶活性的参数，用于检测谷物发芽损坏。对于优化面粉中的酶活力也非常重要，可以确保终产品，例如，面包，意大利面，面条和麦芽的的品质。
符合认可的降落数值测定方法。
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