Aridus 3 膜去溶雾化系统：专门为ICP-MS进样分析研发设计的进样系统，其能够最大增强10倍信号强度，同时能够去除溶剂干扰，极大地降低信号基线，基本上消除氢氧化物干扰。

Aridus进样系统是把微量雾化器和膜去溶技术相结合，具有如下特性：

   具有膜去溶的低流量（<100 µL/min）的微量雾化器

   减少了溶剂对ICP-MS的干扰

   家氮以增强ICP-MS的信号

   所有于样品相关的部件均为惰性材料制成

   泵抽雾化室和溶剂蒸汽瓶的废液

   可与所有ICP-MS 相联

   可与ASX-100微量自动进样器想配

Aridus进样系统采用的低流量、氟材料的微量雾化器，而其性能优于高流量的常用的同心型雾化器。以大约60 µL/min常用样品提升量，Aridus只需小于1mL的样品就能分析所有的元素。同时Aridus全部采用惰性材料，可应用于含HF酸的样品。采用泵抽出雾化室和溶剂蒸汽瓶的废液进一步提高了稳定性。

        从雾化室出来的样品气溶胶进入加热的氟材料隔膜，用一反向氩“穿透气”带走从膜渗透出来的溶剂蒸汽。

减小了ICP-MS的干扰

Aridus膜去溶能有效去除样品溶剂蒸汽，显著地减少诸如来自水中的氧化物、氢化物的干扰，下图比较了标准气动雾化器与Aridus系统的CeO/Ce 比率，该CeO/Ce比率从3% 减少为0.05%。

其他水基的干扰ArH ⁺（39）、CO₂⁺（44）、ArO⁺（56）有明显的减少，从而使Li、Na、Mg、K、Ca、Fe的检出限得到明显改善。

配备Aridus的ICP-MS检出限：（在普通环境、非冷焰的条件下，ELAN6000型ICP-MS）

增强ICP-MS的信号

在膜去溶后加如少量（5 到 20 mL/Min）的氮能提高分析信号。

的信号稳定性

Aridus的1小时信号稳定性：RSD<3%（用Mg²⁴、Co⁵⁹、Ce¹⁴⁰、Pb²⁰⁸ 4个通常调谐元素来测定）

Aridus的10小时信号稳定性：RSD<5%（用Mg²⁴、Co⁵⁹、Ce¹⁴⁰、Pb²⁰⁸ 4个通常调谐元素来测定）