環(huán)境試驗的基礎知識
一、溫度試驗：
　　電工電子產(chǎn)品在溫度應力的作用下會造成塑料、樹脂的老化、分解、變形、甚至燃燒；金屬短路、斷路、損壞；焊劑流動、焊接不實形成噪聲。根據(jù)“10℃規(guī)則”，當環(huán)境溫度上升10℃時，產(chǎn)品壽命會減少一半；當環(huán)境溫度上升10℃時，產(chǎn)品壽命會減少到四分之一。根據(jù)這一現(xiàn)象，我們可以升高環(huán)境溫度，加速失效現(xiàn)象的發(fā)生。這就是我們進行的加速壽命老化試驗。還必須對早期失效的不合格的產(chǎn)品進行篩選測試。

二、濕熱試驗：
　　試驗樣品在高溫高濕條件下，會造成水氣吸附和擴散。許多材料吸濕后體積膨脹、強度降低、電性能下降、金屬腐蝕、離子遷移、造成開路或短路。
　　典型的半導體器件加速濕阻試驗

　　下述結論不僅適用于濕熱試驗同時也適用于其他環(huán)境試驗

　　注：◎很好  ○好  △一般  ×不*
濕熱試驗的注意事項：
　　1、試驗目的明確，進行與目的相符的試驗。積累每一次的失效數(shù)據(jù)，為以后的試驗能有效地進行。
　　2、關心測試數(shù)據(jù)的準確性，濕球紗布變質(zhì)變贓會導致測量精度偏差5%～10%：要使用脫脂的干凈紗布和蒸
　　　 餾水。
　　3、在進行溫度-濕度偏壓試驗（THB）時，因試件內(nèi)部發(fā)熱，試樣表面附近的相對濕度會降低，影響試驗的
　　　 準確性。試驗方式可調(diào)整為：通電1小時斷電3小時，斷續(xù)電試驗。
　　4、試驗箱內(nèi)的溫濕度條件應與試樣內(nèi)部的溫濕度條件保持一致，且均勻度要好。在高濕度試驗中，如果某一
　　　 點的溫度低1℃ ，這一點的濕度就可能變成100%RH，就會有凝結的水珠出現(xiàn)，使試驗數(shù)據(jù)發(fā)生很大變
　　　 化。
　　5、防止試驗箱頂部凝露水滴到度樣上，造成不必要的損失。
　　6、在壓力蒸煮鍋試驗結束后，要冷卻后再取出。防止試樣受到壓力沖擊和溫度沖擊，造成樣品破裂損壞。

三、高低溫溫度沖擊試驗：
　　航空器起飛或降落時，機載外部器材會出現(xiàn)溫度的急劇變化；設備從高溫區(qū)移到低溫區(qū)或從低溫區(qū)移到高溫區(qū)；設備通電與斷電；采用錫焊焊接；整機小型化，元件密集，元器件更容易受熱，等等。都會引起高低溫溫度的沖擊。元器件都是由不同材料構成，由熱膨脹系數(shù)不同引起的故障時有發(fā)生。為此，對產(chǎn)品進行高低溫溫度沖擊試驗，在較短時間內(nèi)確認產(chǎn)品特性的變化，發(fā)現(xiàn)在常溫狀態(tài)下難以發(fā)現(xiàn)的潛在故障，是提高產(chǎn)品可靠性的有力措施。
　　在美國，高低溫溫度沖擊試驗經(jīng)常作為篩選試驗形式對出廠前的產(chǎn)品進行100%的檢查。在日本，高低溫溫度沖擊試驗則作為加速可靠性試驗的一種形式廣泛用于產(chǎn)品的開發(fā)階段。將元器件暴露于迅速交替的超高溫和超低溫的試驗環(huán)境中。在早期，就將不良品篩選出去。保證后面的工作順利進行。

　　高低溫溫度沖擊試驗與溫度循環(huán)試驗的區(qū)別：

　　 兩箱法和三箱法的溫度恢復時間：溫度恢復時間相當于轉換時間，它是指樣品從一個極限溫度轉移到另一個極限溫度所經(jīng)歷的時間。由于氣槽式高低溫溫度沖擊試驗箱通過切換風門改變試驗工作區(qū)的暴露環(huán)境，所以采用了恢復時間這個說法。
　　高低溫溫度沖擊試驗條件與用途：高低溫溫度沖擊試驗使用范圍十分廣泛，這里列出具有代表性的試驗條件供參考。

選擇高低溫溫度沖擊試驗箱（氣槽式）的注意事項： 
　　選擇時不僅要考慮設備的可靠性、穩(wěn)定性和操作性，同時還要考慮以下因素： 
　　1、溫度均勻性好；且傳感器所檢測的溫度能真實反映試樣所處的溫度。
　　2、三箱法具有固定的樣品試驗區(qū)，具有外部信號連接功能；兩箱法采用提籃移動改變暴露環(huán)境，不作通電
　　　 測試。
　　3、試驗箱執(zhí)行的標準是什么？是否采用液態(tài)二氧化碳、液氮來輔助冷卻？
　　總之，高低溫溫度沖擊試驗是標準環(huán)境試驗中比較難的試驗。要認真分析產(chǎn)品失敗的原因，以確定合適的試
　　　 驗條件。