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氦氣中微量Ne和Xe分析解決方案
閱讀：398 發(fā)布時(shí)間：2025-2-7
氣相色譜儀在電子特氣純度分析中發(fā)揮重要作用,分析%含量到 ppm 級(jí)別雜質(zhì)可選擇 TCD 檢測(cè)器、FID檢測(cè)器加甲烷轉(zhuǎn)化爐的方案進(jìn)行分析，而對(duì)于ppb 到 ppm 級(jí)別的痕量物質(zhì)分析普瑞GC-9280氣相色譜儀配有專(zhuān)用的 PDHID檢測(cè)器實(shí)現(xiàn)痕量、常量雜質(zhì)的全面檢測(cè)。
儀器配置:
一閥兩柱 TCD 檢測(cè)器
樣品信息:
Ne,Xe
檢測(cè)下限:
100ppm
對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)方法:
GB/T 4844-2011
控制方式:
空氣驅(qū)動(dòng)閥&電動(dòng)驅(qū)動(dòng)閥
典型譜圖
特征和優(yōu)勢(shì)
u 15min 內(nèi)完成 Ne 和 Xe 分析
u 壓力控制器(APC)確保樣品重現(xiàn)性良好
u Lab-solution 采用“一體化數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)模式"，對(duì)儀器、閥的控制、數(shù)據(jù)采集、處理更加簡(jiǎn)單