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快速的 90 微秒曝光时间使高速红外测温仪 CT 4M 成为测量快速过程的理想传感器。由于其的中波长敏感性和 0°C 到 500°C 的温度测量范围，Optris CT 4M 测温仪适用于测量各种材料，如金属、金属氧化物、陶瓷或任何具有未知或变化发射率的材料。该测温仪是低温传感器的理想替代品，适用于以超高速测量具有挑战性的材料的快速低温测量。测量设备的电子盒通过可选择的模拟输出以及各种可选的数字接口，提供了灵活的终端设备。

温度范围：0°C 至 500°C

光谱范围：2.2 微米 - 6.0 微米

曝光时间：90 微秒

Optris CT 4M 是一种动态的非接触温度测量解决方案，特别擅长在低温环境中处理具有挑战性的材料。该测温仪的中波长光谱使其成为在各种材料上进行快速和低温测量的理想选择，有效解决了低温传感器面临的挑战。

Optris CT 4M 的核心是一款工作在 2.2 – 6 μm 范围内的 InAsSb 探测器。这个波长范围使红外传感器适用于测量金属、金属氧化物、陶瓷或发射率未知或变化的材料。CT 4M 被设计用于高速温度测量，覆盖 0 °C 到 500 °C 的温度范围。