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成都藤田科技有限公司
中级会员·1年您现在的位置： 成都藤田科技有限公司>>日本大塚Otsuka>> 日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差测量装置
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- 地址：
- 中国四川省成都市郫都区创智东二路58号绿地银座A座1118
- 个性化：
- www.fujita-cd.cn
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产品简介
| 产地类别 | 进口 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 综合 |
采用线扫描方式检测整面薄膜 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援 实现高精度测量实现高速测量 不受偏差影响 可对应宽幅样...
产品介绍
日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差测量装置-成都藤田科技提供
产品信息
特 点
使用光谱仪实现高精度测量
精度高的原因
● 使用高性能多通道光谱仪（型号：MCPD）对光谱进行解析
● 可获取较多的透过率信息 实现高精度测量
(获得的透射率信息约为 500 波长，是其他公司产品的约50 倍）。
超高相位差测量-超双折射薄膜可高速、高精度测量
轴角度补正功能-即使样品放置有偏离，也可轻松、再现性良好的进行测量
便捷的软件-极大缩短测量时间与处理时间，操作性大幅UP
产品规格
测量项目（薄膜、光学材料） | 相位差（波长分散）、慢轴、RTH*1、3次元折射率*1等 |
|---|---|
测量项目（偏光片） | 吸收轴、偏光度、消光比、各种色度、各种透过率等 |
测量项目（液晶cell） | cell gap、预倾角*1 、扭曲角、配向角等 |
位相差测量范围 | 0～60,000nm |
相位差重复性 | 3σ≦0.08nm（水晶波长板 约600nm） |
cell gap 测量范围 | 0～600μm（Δn=0.1时） |
cell gap 重复性 | 3σ≦0.005μm（cell gap 约3μｍ、Δｎ＝0.1时） |
轴检测重复性 | 3σ≦0.08°（水晶波长板 约600nm） |
测量波长范围 | 400～800nm（其他可选） |
检测器 | 多通道光谱仪 |
测量径 | φ2㎜(标准规格) |
光源 | 100W halogen lamp |
数据处理部 | 个人计算机、显示器 |
样品台尺寸:标准 | 100㎜×100㎜（固定样品台） |
option | ·超高相位差测量 |
*1：必须配备自动倾斜旋转样品台。（option）
测量案例
固定样品台
自动倾斜旋转样品台
自动XY样品台
日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差测量装置-成都藤田科技提供
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