SXTS-E介质损耗测试仪

一、简单介绍

   用于现场抗干扰介损测量，或试验室精密介损测量。仪器为一体化结构，内置介损电桥、变频电源、试验变压器和标准电容器等。采用变频抗干扰和傅立叶变换数字滤波技术，全自动智能化测量，强干扰下测量数据非常稳定。测量结果由大屏幕液晶显示，自带微型打印机可打印输出。

二、主要功能特点

1.2.1 变频抗干扰

采用变频抗干扰技术，在200%干扰下仍能准确测量，测试数据稳定，适合在现场做抗干扰介损试验。

1.2.2高精度测量

采用数字波形分析和电桥自校准等技术，配合高精度三端标准电容器，实现高精度介损测量。

仪器所有量程输入电阻低于2Ω，消除了测量电缆附加电容的影响。

1.2.3多级安全?；?，确保人身和设备安全

高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能以短路方式高速切断输出。

低压?；ぃ何蠼?80V、电源波动或突然断电，启动?；?，不会引起过电压。

接地保护：仪器接地不良使外壳带危险电压时，启动接地?；ぁ?br/>
C  V  T：高压电压和电流、低压电压和电流四个保护限，不会损坏设备；误选菜单不会输出激磁电压。CVT测量时无10kV高压输出。

防误操作：两级电源开关；电压、电流实时监示；多次按键确认；接线端子高/低压分明；缓速升压，可迅速降压，声光报警。

防“容升"：测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升"效应，仪器能自动跟踪输出电压，保持试验电压恒定。

抗震性能：仪器采用*抗震设计，可耐受强烈长途运输震动、颠簸而不会损坏。

高压电缆：为耐高压绝缘导线，可拖地使用。

SXTS-E介质损耗测试仪

技术参数

1、准确度：Cx: ±（读数×1%+1pF）

              tgδ：±（读数×1%+0.00040）

2、抗干扰指标：变频抗干扰，在200%干扰下仍能达到上述准确度

3、电容量范围：内施高压： 3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

      外施高压：3pF～1.5μF/10kV      60pF～30μF/0.5kV

      分辨率： zui高0.001pF，4位有效数字

4、tgδ范围：不限，分辨率0.001%，电容、电感、电阻三种试品自动识别。

5、试验电流范围：10μA～1A

6、内施高压：设定电压范围：0.5～10kV

       zui大输出电流：200mA

      升降压方式：连续平滑调节

      试验频率： 45、50、55、60、65Hz单频

                45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自动双变频

    频率精度：  ±0.01Hz

7、外施高压： 正接线时zui大试验电流1A，工频或变频40-70Hz

             反接线时zui大试验电流10kV/1A，工频或变频40-70Hz

8、CVT自激法低压输出：输出电压3～50V，输出电流3～30A

9、测量时间：  约40s，与测量方式有关