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当前位置：深圳秋山工业设备有限公司>>外观分析设备>>测试仪>> DUORES日本napson手持式方块电阻测量仪无损探头
| 产地类别 | 进口 | 类型 | 数字式电阻测试仪 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 环保,能源,电子/电池,电气,综合 |
日本napson手持式方块电阻测量仪无损探头 DUORES 特点介绍
手持式方块电阻测量仪，兼容 4 探头法和无损（涡流法）探头
手持式薄层电阻测量装置，易于携带和测量，
可根据测量对象更换两种类型的探头（无损型和接触型）。
可与两种类型探头（无损型和接触型）互换使用的手持式方块电阻测量装置。
只需放置/应用探头即可自动测量
电池连续工作时间：24小时（*使用电池时）
显示数据数：最多100条（*从最新数据开始显示）
保存数据数：最多50,000个（*专用软件显示）
测量数据传输功能：USB-Mini
显示：3种显示单位（Ω/□、S/□、n/m[金属膜厚度换算]）、4位浮点数（0.000～9999）
日本napson手持式方块电阻测量仪无损探头 DUORES 规格参数
测量目标
薄膜、玻璃上的薄膜等
原则上任何样品只要在测量范围内都可以测量。
薄膜材料（ITO、TCO等）
低辐射玻璃
碳纳米管、石墨烯材料
金属材料（纳米线、网格、网格）
其他的
无论尺寸或厚度如何，均可进行测量
（*每个探头的测量点尺寸或更大）
<测量点>
无损探头（涡流式）：φ25mm
接触探头（4探头型）：9mm（针距3mm）
手持式方块电阻测量仪，兼容 4 探头法和无损（涡流法）探头
手持式薄层电阻测量装置，易于携带和测量，
可根据测量对象更换两种类型的探头（无损型和接触型）。
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