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当前位置：深圳秋山工业设备有限公司>>外观分析设备>>测量装置>> MA系列日本mitaka非接触式微透镜阵列三坐标测量机
| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 环保,能源,电子/电池,电气,综合 |
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日本mitaka非接触式微透镜阵列三坐标测量机 MA系列 特点介绍
配备了NH系列的所有基本形状测量功能，可以测量透镜和模具的横截面形状，并使用专用软件一次性测量曲率和中心坐标。
可以使用高精度图像处理来评估镜片的光学特性。
评价项目：有效焦距/后焦距/透过率/焦点位置/焦深/MTF
矩阵创建软件
专用矩阵测量软件可记忆阵列模式并允许顺利自动测量。
非常适合 MLA 的研发和质量控制，MLA 的尺寸越来越细、面积越来越大。
NH显微镜部分可配备Nomarski微分干涉光学系统。
该光学系统可以直观地捕获数十埃的表面粗糙度和划痕，这是普通明场光学系统无法观察到的，并且可以使用激光探头在现场进行定量粗糙度和台阶测量。
日本mitaka非接触式微透镜阵列三坐标测量机 MA系列 规格参数
使用镜片形状测量
激光探头进行测量
- 各镜片表面的曲率半径、中心坐标值
、圆度
、顶点高度、XY坐标
、截面、三维形状测量、表面粗糙度测量
通过图像处理进行测量
?有效焦距
?后焦距、MLA有效焦距
?各镜头的对焦位置及位置偏移
?各镜头的对焦光斑尺寸
?透过率
?焦平面处的成像评价（彗形像差、畸变像差等）
-深度焦点（可选）
- MTF 测量（可?。?/p>
移动范围（X、Y、Z、AF）
100, 100, 100, 10毫米
XY轴刻度分辨率
0.1μm
AF轴刻度分辨率
0.01μm
测量原理
点自动对焦方法 ISO 25178-605
激光
λ = 635nm 输出小于 1mW
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