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当前位置：纳加霍里科技（深圳）有限公司>>KITA>>半导体器件检测的弹簧探针>> KNS025-001WP日本KITA半导体器件弹簧探针开尔文接触
| 价格区间 | 面议 | 应用领域 | 能源,电子/电池,钢铁/金属,汽车及零部件,综合 |
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深圳纳加霍里科技专业代理销售 日本KITA半导体器件弹簧探针开尔文接触（4 端子连接）产品特点如下：
日本KITA半导体器件弹簧探针开尔文接触（4 端子连接）开尔文接触（4端子连接）是一种高精度测试技术，主要用于半导体芯片、晶圆、封装测试等领域的电气性能测量。
1. 开尔文接触（4端子连接）原理
开尔文连接（Kelvin Connection）通过分离电流施加和电压测量的路径，消除导线和接触电阻的影响，显著提升小电阻或低电压信号的测量精度：
电流路径（Force线）：提供测试电流。
电压路径（Sense线）：独立测量被测器件两端的电压，避免电流路径的压降干扰。
2. KITA弹簧探针的关键设计
KITA的弹簧探针针对开尔文测试优化，具有以下特性：
独立隔离的4端子：每个探针包含两个弹簧触点（Force/Sense），物理隔离以减少串扰。
高精度材料：使用铍铜、钯合金等低电阻且耐磨损材料，确保长期稳定性。
微细间距适配：支持高密度布局，适用于微小焊盘或凸块（如BGA、CSP封装）。
弹性行程控制：弹簧结构提供稳定的接触压力，避免损伤被测表面。
3. 典型应用场景
晶圆测试（Wafer Probing）：测量晶体管、二极管、电阻的IV特性。
封装测试（Package Test）：验证封装后器件的导通性和阻抗。
高精度参数分析：如接触电阻（几毫欧级）、导通电阻（RDS(on)）等。
4. 优势
降低接触误差：消除探针与焊盘之间的接触电阻影响。
高重复性：弹簧结构保证多次测试的接触一致性。
兼容自动化：适配探针卡（Probe Card）或测试插座（Test Socket）。
5. 与其他技术的对比
| 特性 | KITA开尔文探针 | 传统2端子探针 |
|---|---|---|
| 测量精度 | 较高（μΩ级） | 受接触电阻影响大 |
| 复杂度 | 较高（需4线布局） | 简单 |
| 成本 | 较高 | 较低 |
公司代理和销售优势品牌明细
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