| 产地类别 |
进口 |
应用领域 |
地矿,电子/电池,道路/轨道/船舶,电气,综合 |
| 订货号 |
176.0755.4908. |
全新泰赛TESEC 热阻测试机 4408-KT
设计用于测量 GaN HEMT随 VGS 的温度变化 (ΔVGS) 的瞬态热阻特性。
测量值 VGS1 和 ΔVGS 值显示在前面板显示屏上。
特点
?测量结果显示在前面板显示屏上
?可以显示升高的温度 ΔT 作为计算结果
?热阻Rth可显示为计算结果
?多重测试功能
?60 可存储测试程序
?接触检查/开路，短路
全新泰赛TESEC 热阻测试机 4408-KT
全新泰赛TESEC 热阻测试机 4408-KT
4408-KT
4408-KT 设计用于测量 GaN HEMT随 VGS 的温度变化 (ΔVGS) 的瞬态热阻特性。
测量值 VGS1 和 ΔVGS 值显示在前面板显示屏上。
特点
?测量结果显示在前面板显示屏上
?可以显示升高的温度 ΔT 作为计算结果
?热阻Rth可显示为计算结果
?多重测试功能
?60 可存储测试程序
?接触检查/开路，短路检查
?振荡检测
?可以通过 TESEC DC 测试仪控制操作
?门限电压可设定，并配备器件过热?；さ缏?/span>
?GP-IB/RS-232C 接口使外部设备能够控制该测试仪
?可以连接功能检查单元（4321-AB）（选项）
■ 可选软件示例
?从 PC 控制测试仪的软件
（测试程序创建、数据收集和计数器收集）
?使用功能检查单元收集测量数据的软件
| 项目 | 规格 |
漏极电流 (ID) | 00.01~20.00 A |
测量电流 (IM) | 000.1~999.9 mA |
栅极电压 (VGS) | 00.1~10.0 V |
栅极限制电压 (GATE-L) | 01.0~10.0 V |
通电时间 (PT)T | 100 微秒~30.0 秒 |
延迟时间 (DT) | 010~999 微秒 |
上限/下限 | 000.0~999.9 mV |
VDS | 01.0~70.0 V |
测量范围 | VGS1 0000.0~2000.0 mV
ΔVGS 0000.0~999.9 mV（分辨率 0.1 mV）
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