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产地类别	进口	应用领域	化工,电子/电池,道路/轨道/船舶,电气,综合
封装	盒装	类型	膜厚计探头

    日本SANKO三高膜厚计探头

    SWT-7000+FN325探头：可进行铁材和非铁材为基材上的涂层厚度。

    新的两用探测头FN-325可用于SWT系列的产品（7000、8000、9000）可测量铁与非铁底材为基体的涂层厚度。

    SWT系列探头可互换。

    ◆两用型:FN-325

    ◆铁材用:Fe系列

    ◆非铁材:NFe系列

探测头型号	FN-325
测量方式	电磁式·涡电流式两用(铁·非铁底材自动识别)
测量范围	铁底材：0～3.00mm、非铁底材：0～2.50mm
表示分辨率	1μm：0～999μm的切换（铁·非铁共通）
	0.1μm：0～400μm（铁·非铁共通）
	0.5μm：400～500μm（铁·非铁共通）
	0.01mm:1.00～3.00mm（铁底材）
	0.01mm:1.00～2.50mm（非铁底材）
测量精度	0～100μm：:1μm（铁·非铁共通）
（平滑表面）	或者是指示值的±2%以内
	101μm～3.00mm:±2%以内（铁底材）
	101μm～2.50mm:±2%以内（非铁底材）
探测部	1点定压接触式、V形切口、φ13×52mm、72g
选择产品	V形探测头套有3种(φ5以下用,φ5～10用,φ10～20用)
附属品	标准校正板、试验用零校正板、（铁用·非铁用）
测量对象	铁底材：铁·钢等磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂膜
	电镀（电解镍除外）等
	非铁底材：铝、铜等非磁性金属底材上的绝缘皮膜等
	一般较普遍的测量物用

SWT-7000Ⅲ系列机型

机型	SWT-7000Ⅲ	SWT-7100Ⅲ		SWT-7200Ⅲ
测量范围	连接的探测头不同测量范围也不同。
显示方式	液晶显示LCD（数据·提示信息）、背光灯
检量线校正	2点校正方式（零校正、标准校正）
检量线存储	铁、非铁各1根			10根
测量值存储	—			20,000点
数据传送	—	USB		USB
统计功能	—	—		内藏
	●背光灯 ●测量模式的切换(普通／连续)●检量线、校正值的删除
附加功能	●自动关机功能(约3分以上不操作时,机器会自动关机)●分辨率的切换
	●上下限值的设定（SWT-7200Ⅲ）
电源	单3电池×2		单3电池×2电源线
使用温度	0～40C°（不结露）
机体尺寸·重量	72（W）×30（H）×156（D）mm、重量 210g
附属品	干电池、收纳袋子	干电池、收纳袋子、电源线、USB线、USB软件（CD）
追加产品	铁材金属用探测头（Fe）、非铁材金属用探测头（NFe）
	铁·非铁材用探测头（FN-325）

SWT-7000Ⅲ系列的铁材金属用探测头（1）（Fe）

型号	Fe-2.5/2.5L	Fe-2.5LwA	Fe-0.6Pem
测量方式	电磁感应式
测量范围	0～2.50mm		0～600μm
表示分解率	1μm：0～999μm		1μm：0～600μm
	切换		切换
	0.1μm：0～400μm		0.1μm：0～400μm
	0.5μm：400～500μm		0.5μm：400～500μm
	0.01mm:1.00～2.50mm
测量精度	0～100μm:±1μm		0～100μm:±1μm
（平滑面）	又或者时显示值的±2%以内		又或者时显示值的±2%以内
	101μm～2.50mm：±2%		101μm～600μm：±2%
探测部	1点定压接触式	1点定压接触式	1点定压接触式
	V形口套头	测量部:约20×57mm	Φ5.6×94mm
	2.5：φ13×48mm	全长:约550～1.550mm
	2.5L:18×23×67mm	（伸缩式）
选择产品	V形套头/—	—	—
选择产品	（φ5以下用、φ5～10用、φ10～20用）	—	—
附属品	标准校正片	标准校正片	标准校正片
	试验用零校正板	试验用零校正板（铁用）	试验用零校正板
	（铁用）	收纳袋子	（铁用）
测量对象	铁·钢等的磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂层、电镀层（电解镍的电镀层除外）等等	铁·钢等的磁性金属底材是哪个的皮膜、衬层等等手不能进去、高的地方、有距离的地方的涂层厚度的测量。	铁·钢等磁性金属底材上的涂层、衬层等狭小的地方、小的部位的涂层的膜厚测量。

SWT-7000Ⅲ系列的铁材金属用探测头（2）（Fe）

型号	Fe-10	Fe-20
测量方式	电磁感应式
测量范围	0～10mm	0～20mm
表示分解率		1μm：0～999μm
	1μm：0～999μm	0.01mm:1～5mm
	0.01mm:1～10mm	0.1mm:5～20mm
测量精度	0～3mm：±（5μm＋显示值的3%）
（平滑面）	3.01mm：显示值的±3%
探测部	1点定压接触式	1点定压接触式
	V形口套头	V形口套头
	φ18×47mm	φ35×59mm
选择产品	—	—
附属品	标准校正片、试验用零校正板（铁用）
测量对象	铁·钢等磁性金属底材的比较厚的涂层用	铁·钢等磁性金属底材上的厚涂层用

WT-7000Ⅲ系列的非铁材金属用探测头（NFe）

型号	NFe-2.0/NFe-2.0L	NFe-06	NFe-8
测量方式	涡电流式
测量范围	0～2.00mm	0～600μm	0～8mm
	1μm：0～999μm	1μm：0～600μm
表示分解率	切换	切换	1μm：0～999μm
	0.1μm：0～400μm	0.1μm：0～400μm	0.01mm：1～8mm
	0.5μm：400～500μm	0.5μm：400～500μm
	0.01mm:1.00～2.00mm
	0～100μm:±1μm	0～100μm:±1μm	0～100μm:±1μm
	又或者时显示值的±2%以内	又或者时显示值的±2%以内	±（±1μm＋显示值的±2%）
测量精度	101μm～2.00mm：	101μm～600μm：	101μm～8mm：
（平滑表面）	±2%以内	±2%以内	±2%以内
	1点定压接触式	1点定压接触式	1点定压接触式
	V形口套头	V形口套头	V形口套头
探测部	2.0：φ13×47mm	φ11×48mm	φ35×61mm
	2.0L：18×23×67mm
选择产品	V形套头/-	－	－
附属品	标准校正片、试验用零校正板（非铁用）
测量对象	铝、铜等非磁性金属底材上的绝缘性皮膜等一般普通测量物用。	铝、铜等非磁性金属底材上的绝缘性皮膜等细小的圆棒、细管、小物件等的高安定性用。	铝、铜等非磁性金属底材上的绝缘性皮膜等比较厚的测量物用。

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