供貨周期 |
現(xiàn)貨 |
應(yīng)用領(lǐng)域 |
化工,電子/電池,綜合 |
日本SANKO三高膜厚計(jì)探頭
可單獨(dú)互換的探頭與主機(jī)一起提供。
為鐵質(zhì)(電磁)或有色金屬(渦流)基材選擇探頭,待定在測(cè)量對(duì)象上。
能夠選擇探頭,如高穩(wěn)定性探頭,根據(jù)應(yīng)用和測(cè)量范圍測(cè)量微小的物體或類似物體。
日本SANKO三高膜厚計(jì)探頭
功能特性
SWT(NFe探頭)的規(guī)格
顯示分辨率
1μm:0~999μm切換為
0.1μm
:0~400μm 0.5μm:400~500μm
0.01mm:1.00~2.00mm
精度(在平面上垂直測(cè)試)
0~100μm:±1μm
或±2%讀數(shù)值
101μm~2.00mm:±2%
探針
單點(diǎn)接觸恒壓型 V型切割
2.0:φ15 x 47mm 2.0L:18 x 22 x 67mm
輔料
標(biāo)準(zhǔn)厚度,零板測(cè)試 (NFe)
測(cè)量對(duì)象
非磁性金屬基材(如鋁、杯)上的絕緣膜
探頭必須單獨(dú)訂購。
※SNFe-3.5可使用V型探頭適配器(5種:lessΦ10、Φ10~20、Φ2~0)。
日本SANKO三高膜厚計(jì)探頭
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