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当前位置：西凡仪器（深圳）有限公司>>贵金属检测仪>>测金仪>> XF-A5Slite西凡测金仪A5Slite分析贵金属含量镀层等
| 产地类别 | 国产 | 应用领域 | 钢铁/金属,综合 |
|---|---|---|---|
| 元素检测范围 | 钾(19)～铀(92) | 分析范围 | 0.010%～99.999% |
| 检测精度 | ±0.03%(9999金) | 检测样品 | 贵金属合金/液体 |
| 探测器 | 美国AMPTEK定制Si-PIN | 内置工控电脑 | Intel i3十核 |
XF-A5SLite是西凡仪器在2025年推出的一款光路全新升级的贵金属检测仪，可广泛应用于贵金属产业链。该产品搭载美国AMPTEK定制Si-PIN探测器，内置Intel十核CPU电脑，采用Smart FP算法，创新性应用西凡第二代X射线与可见光共焦点垂直光路，可获得更小的实际照射焦斑。检测速度快，测试稳定性好、准确性高，性价比更高。
产品特点
元素检测范围：钾(19)～铀(92)
可支持最多30个元素同时计算
镀层报警、铼钨检测报警
分析范围：
贵金属：0.010%～99.999%
液体：10mg/L~200g/L
检测精度：
贵金属：±0.03%(9999金)
液体：RSD≤2.5%
检测样品：贵金属合金/液体
支持多点连续测试，测试效率高
核心部件
探测器：美国AMPTEK定制Si-PIN
探测器面积：6mm2
分辨率：145±5eV
内置工控电脑：Intel i3十核
高压电源：50KV/1mA数字高压电源
X射线管：50KV/1mA
窗口材料：铝
靶材：钨
焦点：Φ0.5mm
准直器：Φ2.0毫米
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