日本电子JEOL肖特基场发射扫描电镜IT800产品介绍：

一、日本电子JEOL肖特基场发射扫描电镜IT800高分辨率成像能力

JSM-IT800采用浸没式肖特基Plus场发射电子枪，结合低像差聚光透镜和Neo Engine电子光学控制系统，实现了纳米级分辨率。其二次电子图像分辨率在15kV加速电压下可达0.5nm，即使在1kV低电压下仍保持0.7nm的高分辨率。这一特性使其在观察纳米材料、半导体器件等微观结构时具有显著优势，例如可清晰显示小于10nm的催化剂颗粒分布。

二、灵活模块化设计

多种物镜选择：提供五种物镜?？?，包括通用型混合透镜（HL）、高分辨率超级混合透镜（SHL/SHLs）以及专为半导体设计的半浸没式物镜（i/is），满足从磁性材料到绝缘体的多样化分析需求。

可扩展探测器系统：配备新型闪烁体背散射探测器（SBED）和多功能背散射探测器（VBED），SBED在低电压下仍能捕捉清晰的成分对比图像，而VBED支持3D形貌与成分信息的同步获取，适用于复杂样品的多维度分析。

三、智能化操作与高效分析

集成化控制平台：通过SEM Center图形界面无缝整合能量色散X射线谱仪（EDS），实现实时成分分析与图像显示的无缝切换，提升分析效率。

AI辅助功能：引入LIVE-AI滤镜优化实时图像质量，支持快速聚焦和像散调整；可选软件如Smile Navi为新手提供操作导航，降低使用门槛。

自动化调节：具备自动合轴、聚焦、消像散等功能，结合五轴马达驱动样品台（支持360°旋转和倾斜），简化复杂操作流程。

四、广泛适用性与工业兼容性

JSM-IT800在纳米技术、半导体、材料科学、生物医学等领域表现zhuoyue。例如，其超级混合透镜（SHL）可高效分析磁性材料，无需切换模式；半浸没式物镜（i/is）则擅长半导体器件的横截面故障分析。此外，设备支持大束流下的高分辨成像（如100nA@5kV），结合高速元素面分析和EBSD（电子背散射衍射）功能，满足工业质检的快速检测需求。