CRDR分辨率测试卡，是一种用于检测CR（Computed Radiography，计算机放射成像）和DR（Digital Radiography，数字放射成像）系统空间分辨率的工具。这种测试卡通常由一系列线对组成，这些线对具有不同的线对每毫米（LP/MM）值，量程一般在0.6-5.0LP/MM之间。通过这些线对，可以评估X光影像系统的分辨率性能。
使用CRDR分辨率测试卡时，
CRDR分辨率测试卡
产品名称：DR分辨率测试卡
产品标号：SY20240626-04
产品销售和生产单位：：廊坊玉双仪器设备有限公司，加工设计定制各种：DR分辨率测试卡
产品售后：质保一年
产品运输：快递运输，一般都是顺丰发货，送货上门。
产品包装：防震防水，放破损包装。
产品简介：CRDR分辨率测试卡是一种用于检测CR（Computed Radiography，计算机放射成像）和DR（Digital Radiography，数字放射成像）系统空间分辨率的工具。这种测试卡通常由一系列线对组成，这些线对具有不同的线对每毫米（LP/MM）值，量程一般在0.6-5.0LP/MM之间。通过这些线对，可以评估X光影像系统的分辨率性能。
使用CRDR分辨率测试卡时，需要注意以下几点：
使用记录：每次使用测试卡后，应记录下使用人、分辨率测试值以及进行了哪些操作，以便对成像设备的分辨率进行详细的跟踪和检测。
日常维护：要定期检查测试卡的外观，并注意其存放环境，避免因不良储存环境导致卡片损坏。同时，应定期更换储存塑料盒中的干燥剂，最长时间不应超过半年。
实验注意事项：如果实验过程中需要使用大量有机溶剂，应当停止循环并待溶剂充分挥发后再继续实验，以防止对测试卡造成损害。实验结束后，应先清洁测试卡，然后再重新启动循环。射线分辨率线对卡（即分辨率测试卡）能够客观地描述射线实时成像检测系统分辨率和实时成像检测图像分辨率（包括射线照相底片分辨率）的质量指标。它们通常配备不同线对数的线对卡，以满足在微米和纳米焦点的图像质量测量需求。
在使用X射线分辨率测试卡时，重要的是要确保X射线系统的各项参数符合要求，例如线器（缩光器）的铅当量、有用线束照射野的尺寸，以及总过滤等。合适的设置能够保证系统在检测时达到理想的分辨率效果。
产品编号：SY20240626-04
化工仪器网