AI-TEK 接头 CA79860-06-010现货供应
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与数十个半导体公司合作
公司在*范围内
几十年来,莫特做到了
行业的定制开发
工程,实验室测试,和
原型的能力。每一个
戴,我们设计多孔金属过滤器
和流量控制装置解决
挑战性问题工具
制造商,晶片制造商,
燃气箱供应商等
制造商的脸。
此外,长期客户
而新来者同样依赖
我们的*客户
创新中心的帮助支持
他们在发展新的
产品和识别问题
或者在设计的早期考虑
制造过程。
我们的工程师和科学家
积累了几十年的经验
与半导体公司合作
解决复杂产业
挑战与我们同在
注意我们的一个团队成员
负责编写
SEMI F38颗粒规范
过滤效率。
莫特在这个行业中经营得最多
*设备及优惠
全面、深入分析,
包括:
•CFD分析—启用CFD
我们的工程师为各种模型
流量和过滤变量
(流量分布,压降,
气体速度和更多)之前
产品概念,减少研发
开发和验证时间。
•3D打正在申请中
过程,莫特能够生产
多孔金属零件配合复杂
几何形状和精确的孔径-
不受约束的过程
由于加工的局限性
或工具。
•过滤效率/挑战测试
根据SEMI F38-0699(额定流量)-
使用点的评价方法
各种媒体的过滤器。
通常用于惰性过滤
在半导体中加工气体
应用程序。这个测试
方法用于演示
使用点的能力
气体过滤器达到或超过
特定粒子过滤
受到挑战时的效率等级
用单分散气溶胶。
测试的效率等级
方法定义为日志
减少价值(制动)。
•每个SEMI的颗粒脱落测试
F43-0308 -过程使用
凝结核计数器
(CNC)应用于在线气体
通常使用过滤器和净化器
在半导体的应用程序。
该试验方法的应用是
预计将产生可比数据
在使用点净化器和
过滤器测试的目的
其安装资格。
SEM/EDAX分析-提供
高分辨率成像
样品和元素检测
夹杂物,碎片,污渍和
污染物。用于分析
媒体,识别区域
改进,避免
潜在的故障或停机时间。
•故障分析和生命周期
测试——生命周期测试
多孔部件是有能力的
衡量长期的影响
腐蚀风险、压力
循环和其他过程
可能改变机械完整性。
这种测试在确定
当零件可能
需要更换和避免
生产?;奔洳?/p>
从不可预见的并发症。
•元素化学分析
光发射光谱学
波长色散x射线
荧光能够
散装、次要和微量元素
材料和合金的分析
确定元素组成
固体或液体。
•多孔介质特性-
测量气泡点,最大值
孔径,孔径分布
和流动特性
媒体。通过这个分析,我们
将提出建议
的特定媒体
帮助你实现你想要的
系统的规格。
•粒径分析-使用
确定颗粒大小
分布是为了选择
优良的过滤介质
您的应用程序。的关键
粒子捕获
同时最小化的压力
加入这个过程。