SURTRONIC DUO泰勒粗糙度仪TAYLOR

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO具有红外接口可在距离被测物 1 米处进行测量。

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO新型粗糙度仪通过仪器底部传感器直接接触被测工件进行测量，其设计可满足不同的技术与工作环境要求。

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO新型粗糙度仪快速测量 在仪器底端接触工件瞬间，即可读出测量值。全部操作步骤仅需简单教授即可

携带方便 SURTRONIC DUO粗糙度仪 可应用于车间、实验室的测量。也可方便置于衣服口袋中或挂在腰间。

经外接口 操作者可在距离被测工件 1m 处操作测量。

校准方便SURTRONIC  DUO 粗糙度仪具有自身校准标准，可预设标准值，通过 LCD 显示出来。

测针保护 不用时，设“ park "位置可全面保护测针。

人体工程学设计

SURTRONIC DUO新型粗糙度仪量 程： 200um

行 程： 5mm

取样长度： 0.8mm+/-15%

参 数： Ra ： 0.1um-40um Ra ： 0.1um-199um

精 度： Ra:0.1um Rz:0.1um

尺 寸： 125*80*38mm

检测方式： 压电式

DUO新型粗糙度仪重 量： 200g