Fischerscope X-rayXDL220菲希爾無損測厚儀

Fischerscope X-rayXDL220菲希爾無損測厚儀

菲希爾XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。
菲希爾XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀典型的應用領(lǐng)域有：
?測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
?測量薄鍍層，例如裝飾鉻
?測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層
?全自動測量，如測量印刷線路板
?分析電鍍?nèi)芤?br/>菲希爾無損測厚儀設計理念
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。我們會根據(jù)樣品平臺的運行模式以及固定或者可調(diào)節(jié)的Z 軸系統(tǒng)來設定不同型號的儀器以滿足實際
應用的需求。
菲希爾無損測厚儀XDL210：平面樣品平臺，固定的Z 軸系統(tǒng)
高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實時觀察測量過程和進度。配有馬達驅(qū)動X-Y 樣品平臺的儀器還配備了激光點，可以輔助定位并快速對準測量位置。
測量箱底部的開槽專為大而扁平的樣品設計，可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。
例如大型的線路板。
所有的操作，測量數(shù)據(jù)的計算，以及測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示都是通過強大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成的。