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一文了解半導體掃描電子顯微鏡
閱讀：533 發(fā)布時間：2023-2-13
掃描電鏡全稱為掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope，簡稱SEM），被廣泛地應(yīng)用于化學、生物、醫(yī)學、冶金、材料、半導體制造、微電路檢查等各個研究領(lǐng)域和工業(yè)部門。
掃描電子顯微鏡（SEM）主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài)，即用極細的電子束去掃描樣品，通過探測由入射電子轟擊樣品表面激發(fā)出來的電子信號，達到對物質(zhì)微觀形貌的表征。掃描電子顯微鏡可以觀察到半導體材料的形貌特征，也可以通過觀察材料在循環(huán)過程中發(fā)生的形變，判斷其對應(yīng)的循環(huán)保持能力。
掃描電子顯微鏡SEM應(yīng)用范圍：
1、材料表面形貌分析，微區(qū)形貌觀察
2、各種材料形狀、大小、表面、斷面、粒徑分布分析
3、各種薄膜樣品表面形貌觀察、薄膜粗糙度及膜厚分析
Epoxy Technology Inc產(chǎn)品廣泛用于半導體、光電、光通訊、醫(yī)學、汽車、航天航空、航空電子設(shè)備、以及電子裝配市場。
掃描電子顯微鏡（SEM）中鍍鋁膜的玻璃鏡片與鋁金屬底座之間的導電粘接，推薦H20E導電膠，產(chǎn)品可適應(yīng)真空環(huán)境下使用，滿足低益氣，粘接強度牢固，耐震動沖擊測試等。