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详细介绍
XRF-2000L测厚仪射线电镀膜厚仪
X射线或粒子射线经物质照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。
从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来
而此时是以荧光或光的形态被释放出来。
荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度
来进行定性和定量分析。
XRF-2020测厚仪功能及应用：
1、通过CCD来观察及选择任意的微小面积以进行镀层厚度的测量；
2、避免直接接触或破坏被测物；
3、全自动台面及自动对焦更能准确测量产品位置；
4、适应于各类五金电镀,电子连接器端子等；
5、检测电子电镀,五金电镀,端子连接器等产品电镀层厚度；
6、可测量镀金,镀银.镀锌.镀镍,镀锡.镀铬,镀锌镍等。
XRF-2000L测厚仪射线电镀膜厚仪特点参数
1、测量范围:0.03-35um；
2、测量误差:±5%以内；
3、测量时间只需30秒；
4、便可准确知道镀层厚度；
5、全自动台面,自动对焦，操作非常方便简单；
6、仪器整机，配置全自动台面，自动雷射对焦,多实现多点自动测量；
| 单镀层：Ag/xx | 合金镀层：ZnNi/xx | 双镀层：Au/Ni/xx |
| Ag-Sn | ZnNi | Au |
| 底材 | 底材 | Ni |
| 底材 | ||
| 合金镀层：Sn-Bi/xx | 三镀层：Au/Pd/Ni/xx | 化学镀层：Ni-P/xx |
| Sn-Bi | Au | Ni-P |
| 底材 | Pd | 底材 |
| Ni | ||
| 底材 |
仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量
多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm
可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换
XRF-2000L测厚仪射线电镀膜厚仪
可测单镀层,双多镀层,多镀层及合金镀层
测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等
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