天瑞Thick800A鍍層測(cè)厚儀介紹  

鍍層厚度測(cè)試方法一般有以下幾種方法：

1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T6462-2005

2、X-ray法（X射線(xiàn)法）。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T16921-2005

3、庫(kù)侖法，此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T4955-2005

 天瑞Thick800A鍍層測(cè)厚儀介紹  測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

1國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

    金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線(xiàn)光譜方法

2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

天瑞Thick800A具如下特點(diǎn)：

1. 高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm；

2. 采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度滿(mǎn)足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求；

3. φ0.2mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿(mǎn)足微小測(cè)試點(diǎn)的需求；

4. 定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊；

5. 鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)的位置就是被測(cè)點(diǎn)；

6. 高分辨率探頭使分析結(jié)果更加，微小測(cè)試點(diǎn)更；

7. X射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀廠(chǎng)家優(yōu)勢(shì)在于滿(mǎn)足客戶(hù)要求的情況下，價(jià)格更優(yōu)惠、售后服務(wù)更方便，維護(hù)成本更低。

測(cè)試實(shí)例

鍍鎳器件是比較常見(jiàn)的電鍍器件，其鎳鍍層在保護(hù)銅基體免受氧化同時(shí)還能起到美觀(guān)的作用。這里以測(cè)試客戶(hù)的一件銅鍍鎳樣品為例說(shuō)明此款儀器的測(cè)試效果。
以下使用Thick800A儀器對(duì)銅鍍鎳樣品實(shí)際測(cè)試Ni層厚度，七次的結(jié)果其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。且可在樣品上進(jìn)行定位測(cè)試，其測(cè)試位置如圖。

                                                     銅鍍鎳件X射線(xiàn)熒光測(cè)試譜圖
 
                                                                         銅鍍鎳件測(cè)試值

結(jié)論

實(shí)驗(yàn)表明，使用Thick800A 儀器對(duì)鍍件膜厚測(cè)試，結(jié)果度高，速度快（幾十秒），其測(cè)試效果*可以和顯微鏡測(cè)試法媲美。