目錄:蘇州金合博源測(cè)控技術(shù)有限公司>>元件測(cè)試儀 益和/BK/CAF>>（益和）PCB電路板微短測(cè)試儀9333+6420>> MICROTEST 9333 6420（益和）PCB電路板線圈微短測(cè)試儀9333 6420
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更新時(shí)間：2024-07-17 19:18:42瀏覽次數(shù)：2097評(píng)價(jià)
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益和8761N/8761NA/8761FA線材測(cè)試儀
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,航空航天,汽車(chē)及零部件,電氣 |
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PCB多線圈微短測(cè)試儀
一、簡(jiǎn)介：
NFC天線或WPC無(wú)線充電線圈板採(cǎi)用軟板材料能夠滿(mǎn)足『智慧手持設(shè)備』或『穿戴式智慧產(chǎn)品』輕巧訴求下，F(xiàn)PC佈線成線圈繞組不論是蝕刻或銀膠印刷會(huì)因製程不良導(dǎo)致線圈與線圈相互接觸產(chǎn)生微短路現(xiàn)象，往往這種品質(zhì)瑕疵漏洞造成下游模組廠功能測(cè)試結(jié)果為NG，后變成客訴的主要因素。
線圈微短路現(xiàn)象嚴(yán)重時(shí)會(huì)導(dǎo)致WPC無(wú)線充電模組無(wú)法進(jìn)行充電功能，或是應(yīng)用在行動(dòng)支付上NFC應(yīng)用卡片感應(yīng)不良，因此PCB線圈微短瑕疵檢測(cè)成為品質(zhì)的重要課題。
PCB線圈微短測(cè)試機(jī)9333採(cǎi)用非破壞性的高壓檢測(cè)，檢測(cè)方式為加壓線圈的兩端利用瞬間電壓使待測(cè)物線圈電感與測(cè)試機(jī)內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)電容相互諧振出能量從釋放到衰減會(huì)產(chǎn)出一組波形，透過(guò)波形比對(duì)出PCB線圈本身絕緣、電感量與并聯(lián)電容量為小的變化，借此把關(guān)PCB制程對(duì)線圈造成的微短路瑕疵。
二、特色：
PCB線圈因製程不良，導(dǎo)致線圈微短現(xiàn)象(圈與圈之間/層與層之間相互接近短路)，可能在成品測(cè)試階段出現(xiàn)NG不良的客訴風(fēng)險(xiǎn)
可同時(shí)測(cè)試多組線圈板提升效率
電測(cè)方式非破壞性分析- 瞬間電壓測(cè)試
透過(guò)L/C相互放電諧振釋放出波形進(jìn)行比對(duì)
整合LCR 量測(cè)功能，對(duì)線圈板進(jìn)行*品質(zhì)控管(電感量/電感Q值/直流電阻)
三、規(guī)格：
3.1量測(cè)數(shù)據(jù)
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電感阻抗特性 | |
直流電阻量測(cè)範(fàn)圍 | 0.1m? ~ 100k?( 四線量測(cè) ) |
穩(wěn)定精度 | 低阻：0.1m? ~1? ±(0.2% ± 1m?)高阻：1? ~ 100k? ±0.1% |
電感量 | |
電感量測(cè)試 | 0.01nH ~ 100kH |
線圈微短 | |
量測(cè)電壓 | 0.2kV ~ 3kV ±2% |
量測(cè)項(xiàng)目 | 波形總面積、波形面積差、波形顫動(dòng)數(shù)、波形比對(duì)、電暈數(shù) |
穩(wěn)定精度 | 2% |
3.2規(guī)格：
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量測(cè)接點(diǎn) | 17 channels |
指示器 | PASS / FAIL 畫(huà)面顯示 / 聲響判斷 |
測(cè)試治具 | 依測(cè)試需求生產(chǎn)製作 |
電源需求 | 90 ~ 132Vac or 198 ~ 264Vac (可切換) |
介面 | RS-232 |
儲(chǔ)存記憶體 | Flash Memory可重覆儲(chǔ)存 100 組 |
啟動(dòng)方式 | 手動(dòng)、RS-232 |
操作環(huán)境 | 溫度：10℃ ~ 40℃，濕度：20 ~ 90%RH |
6420+9333 外觀尺寸 (W*H*D) / 重量 | 435x140x520 mm / 15 Kg |
9333/6420 液晶螢?zāi)?/span> | 320*240 解析度圖形液晶顯示 |
3.3功能項(xiàng)目
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測(cè)試功能項(xiàng)目 | 量測(cè)範(fàn)圍 |
線圈微短 | 脈衝電壓 200V ~ 3000V |
線圈阻抗 | 電感量測(cè)、品質(zhì)因素、直流電阻 |
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