产品介绍

金属镀层分析仪（X-Ray)适用于测定电镀及电子线路板等行业需要分析的金属覆盖层厚度。 包括：金（Au），银（Ag），锡（Sn），铜（Cu），镍（Ni），铬（Cr）等金属元素厚度。本测量方法可同时测量三层覆盖层体系，或同时测量三层组分的厚度和成分。天瑞仪器thick600金属镀层分析仪是一款性价比*的产品，得到了广泛应用和认可。

工作原理

X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射，这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量（若密度已知，则为覆盖层线性厚度）和二次辐射强度之间存在一定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。若覆盖层材料的密度已知，同时又给出实际的密度，则这样的标准块就能给出覆盖层线性厚度。

技术指标

型号：THICK600

分析范围： Ti-U，可分析3层15个元素

分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）

工作电压：AC 110V/220V（建议配置交流净化稳压电源）

测量时间：40秒（可根据实际情况调整）

探测器分辨率：（160±5）eV

光管高压：5-50kV

管流：50μA-1000μA

环境温度：15℃-30℃ 

环境湿度：30%-70%

准直器：配置不同直径准直孔，小孔径φ0.2mm

仪器尺寸：610(L) x 355 (W) x 380（H） mm

仪器重量：30kg

性能特点

长效稳定X铜光管

半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷

采用天瑞仪器信噪比增强器（SNE）

内置高清晰摄像头，方便用户随时观测样品

脉冲处理器，数据处理快速准确

手动开关样品腔，操作安全方便

三重安全?；つＪ?/span>

整体钢架结构、外型高贵时尚

FP软件，无标准样品时亦可测量

应用领域

广泛应用于金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定电镀、PCB、电子电器、气配五金、卫浴等行业

部分产品

XRF镀层测厚仪，X荧光镀层膜厚仪， x-ray镀层测厚仪，X光电镀层测厚仪，X荧光镀层测厚仪品牌，x射线电镀层测厚仪，损金属镀层测厚仪，天瑞镀层检测仪，X射线镀层测厚仪价格，五金电镀层测厚仪，金属镀层分析仪，X射线荧光金属镀层分析仪，镀层膜厚测试仪， 国产电镀层测厚仪， x射线荧光镀层测厚仪，电镀层测厚仪厂家， PCB表面镀层测厚仪,X射线荧光多镀层厚度测量仪，镀层分析仪X荧光电镀层测厚仪，金属镀层测厚仪，金属镀层膜厚仪，X荧光镀层测厚仪，电镀镀层测厚仪，xrf镀层膜厚测试仪，x射线荧光测厚仪,X射线镀层膜厚仪，X射线镀层测厚仪。