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參考價(jià) | 面議 |
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更新時(shí)間:2025-07-03 17:09:50瀏覽次數(shù):1514評(píng)價(jià)
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 抽氣壓力 | 1Pa |
---|---|---|---|
典型配置 | 可吸入顆粒物采樣器 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
流量范圍 | 1L/min | 流量穩(wěn)定性 | 1 |
最大流量和阻力下使用壽命 | 1h | 最大流量誤差 | 1 |
最高流量和阻力下運(yùn)行時(shí)間 | 1h |
ISAP LCPI納米級(jí)多級(jí)氣溶膠采樣器(包郵) 產(chǎn)品介紹:
ISAP LCPI納米級(jí)多級(jí)氣溶膠采樣器用于環(huán)境空氣、煙氣、固定源排放和機(jī)動(dòng)車排放的分級(jí)采樣。采樣原理遵循PILAT/BERNER型碰撞器的設(shè)計(jì)。主要用于采集空氣動(dòng)力學(xué)直徑小于20μm的粉塵或煙塵,根據(jù)應(yīng)用不同,流速范圍為5LPM~60LPM,切割粒徑為20μm~1nm。
流速由臨界流速孔控制,更少顆粒物損失流速系統(tǒng),優(yōu)化雷諾數(shù)設(shè)計(jì),保證準(zhǔn)確而銳利的粒徑切割,每一個(gè)采樣器生產(chǎn)后都經(jīng)過(guò)高精度的校準(zhǔn)檢驗(yàn)。
對(duì)于不同采樣、評(píng)價(jià)和分析方法,提供多種等速采樣進(jìn)氣口、特殊的采樣探頭、采樣法蘭及適配組件。
除了重量分析和光學(xué)方法(掃描電鏡),針對(duì)痕量元素(如Al、Sb、As、Ba、Pb、Cd、Cr、Co、Fe、K、Ca、Cu、Mg、Mn、Na、Ni、Se、Tl、V、Zn和Sn)的定量分析方法還包括原子光譜法(原子吸收光譜AAS)、氣相色譜質(zhì)譜(GC-MS)、電感藕合等離子體質(zhì)譜(ICP-MS)、電感藕合等離子體發(fā)射光譜(ICP-OES)、質(zhì)子激發(fā)X熒光光譜分析法(PIXE)、全反射x射線熒光光譜法(TXRF)。
高溫和低溫LCPI具有特殊的墊片,使得采樣器可以在-50~+310°C溫度范圍下采樣。使用耐酸腐蝕材料,煙氣中的酸性氣體不會(huì)腐蝕采樣器。
自動(dòng)運(yùn)行可選LPCI-PSe泵站,字母“e”代表泵站帶有電子微處理器,除了可以進(jìn)行自動(dòng)化采樣,還可以進(jìn)行采樣地點(diǎn)環(huán)境氣象參數(shù)的評(píng)估,可連接多種氣象傳感器。
產(chǎn)品特點(diǎn):
粒徑分級(jí)
采樣流速27LPM時(shí),粒徑分級(jí)如下:
11級(jí)13粒徑段(BERNER Impactor) 10.0/ 5.0/ 2.5/ 1.0/ 0.5/ 0.25/ 0.12/ 0.06/ 0.03/ 0.015/ 0.0075 [/0.001back-up filter stage]
可選6級(jí)8粒徑段 (PILAT Impactor)
[20.0 Pre-separator/] 10.0/ 5.0/ 2.5/ 1.0/ 0.5/ 0.25/ 0.12 [/0.001 Back-up filter stage]
大流量多級(jí)沖擊式采樣頭high volume cascade impactor sampling heads (UHVCI)
可選耗材
玻璃纖維濾膜
石英纖維濾膜
聚酰亞胺polyimide (KAPTON®)
聚碳酸酯濾膜(PC)—用于SEM、AAS、ICP-MS、ICP-OES、PIXE、TXRF等分析
聚酯polyester
聚丙烯polypropylene (PP)
聚四氟乙烯(PTFE-TEFLON®)—用于SEM、AAS、ICP-MS、ICP-OES、PIXE、TXRF等分析
聚氨酯泡沫polyurethane foam (PU)
聚氟乙烯polyvinyl fluoride (PVF-TEDLAR®)
可選氣象傳感器
風(fēng)向、風(fēng)速、相對(duì)濕度、溫度、雨量、太陽(yáng)輻射、紫外、輻射、噪音、震動(dòng)傳感器
ISAP LCPI納米級(jí)多級(jí)氣溶膠采樣器(包郵) 技術(shù)參數(shù):
低顆粒物損失流設(shè)計(jì)
可選的抗靜電旁路
每級(jí)高精度標(biāo)定
大直徑碰撞盤:外徑70mm 內(nèi)徑30mm
流速范圍:5~60 LPM
切割粒徑范圍:20.0 µm ~ 1 nm
溫度范圍:-50 ~ +310°C
預(yù)分離器
恒流設(shè)計(jì)
保溫夾套設(shè)計(jì)
可選等速采樣入口,總顆粒物分析
耐酸腐蝕設(shè)計(jì)
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)