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二手日本电子SEM+EDX

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更新时间:2024-05-09 10:31:03浏览次数:1412

联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!

产品简介

背散射电子图像分辨率 4.0nm@30KV 产地类别 进口
二次电子图象分辨率 3.0nm @ 30KV WD 8mmnm 放大倍数 ×5~×300,000x
加速电压 0.5KV ~ 30KVkV 价格区间 面议
仪器种类 钨灯丝 应用领域 化工,地矿,建材/家具,电子/电池,航空航天
二手日本电子SEM+EDX JSMIT300扫描电子显微镜经过改进照射系统、真空系统和信号处理系统,不仅能观察高质量的图像,还能利用触控屏和快速样品台进行高通量的直观操作。JSM-IT300 提供高画质图像,能满足您对W-SEM机型的期待,新的镜筒设计和扫描系统使得不导电样品的图像质量有了显著的提高。

详细介绍

二手日本电子SEM+EDX主要特长

优秀电子光学系统 JSM-IT300A是株式会社最新升级版机型,集合了分析扫描电镜精髓功能,结构紧凑、节省空间,分辨率高。

操作舒适快捷 JSM-IT300A拥有非常直观的操作系统,即使没有经验的用户也可进行操作高品质的SEM图像,以及高效率元素分析??芍С植僮鞔ッ?。

安装的灵活性 二手日本电子SEM+EDX节省空间,安装方便。一个电源插座就足以安装。不需要任何冷却水。


JSM-IT300A性能参数

Main Performance on JSM-IT200A                                                                                             


Performance

(一) 主要性能


SEI Mode Resolution

二次电子图像分辨率

3.0nm @ 30KV   WD 8mm

8.0nm   @ 3KV    WD   6mm

15.0nm  @ 1KV    WD 6mm

BEI Mode Resolution

背散射电子模式分辨率

4.0nm@30KV

Magnification

放大倍数

×5~×300,000(底片倍率)

×14~×839,724(显示器倍率)

Detectors

探测器

Secondary Electron Detector

二次电子探测器

★Semiconductor   Backscattered Electron Detector(patent)

半导体型背散射电子探测器(技术)

Image Mode

图像模式

Secondary Electron Image

二次电子图像

REF Image

REF像

Composition Image (Backscattered   Electron Image)

成份像 (背散射电子图像)

Topography Image (Backscattered   Electron Image)

形貌像 (背散射电子图像)

Shadow Image (Backscattered Electron   Image)

立体像 (背散射电子图像)

Live Image Display

实时图像显示

Dual Live Image Display, Split Live   Image,

双实时图像同时显示,   分割实时图像显示

Accelerating Voltage

加速电压

0.5KV ~ 30KV

Probe Current

探针束流

1pA ~ 0.3uA

Electron Optics

(二) 电子光学系统


Filament

灯丝

Factory pre-centered tungsten hairpin   filament

工厂预对中钨灯丝

★Gun   Bias Voltage

电子枪偏压

Seamless   automatic bias

无缝式自给偏压, 连续调整

Gun Alignment

电子枪合轴

Auto alignment

自动合轴

Filament Heating

灯丝加热

Auto heating

自动加热

★Condenser   Lens

聚光透镜

Two   stage zoom type condenser lens – (patent)

变焦聚光透镜系统 – 技术

★Objective   Lens

物镜

Super conical type objective lens

超级锥形物镜

Objective Lens Aperture

物镜光阑

1 step, Fine position adjustment in X   and Y directions

1孔固定,可在X和Y方向微调

Focus

聚焦

Auto/Manual focus

自动/手动聚焦

Stigmator

像散

Auto/Manual stigmator

自动/手动消像散

★Stigmator   Memory

像散存储器

Standard,  Auto/Manual

标准配置,自动/手动补偿像散

★Electrical   Image Shift

图像移动

X-Y , ±50um

Specimen Stage

(三) 样品台


Type

样品台类型

Eucentric type stage

全对中样品台

Traverse

行程


X       :  80mm;

Y       :  40mm;

Z       :  5 ~ 48mm;

倾斜 T:  -10 ~ +90°

旋转 R:  360°连续endless

Maximum Specimen Size

最大样品尺寸

150mm diameter & 48mm height   specimen can be inserted

可装直径150mm高度为48mm的样品

Maximum Size of Observation

最大观察视野

127mm diameter

直径127mm

Image Display

(四) 图形显示


Pixels

显示像素

640×480,1280×960,2560×1920,5120×3840

Image Process

图像处理

Averaging, Linear, Contrast, Gamma,   Multi level, Patial enhance, Reverse, Pseudo color, Multi image

平均值, 灰度修正,   反差增强, 伪彩,   二及四分屏, 2及4倍数码变焦




                                                                                                                                                                                                 

高品质的图像

通过改进电子光学系统,使图像质量更高,分析更快。

减少了充放电现象

新的扫描方式能抑制非导电性样品的荷电效应。

低真空模式(LV)

低真空压力范围从10 Pa 至 650 Pa,拓宽了可以观察的样品材料的范围。

样品台导航系统

全自动5 轴马达驱动样品台提高了寻找感兴趣的区域(ROI)的速度。使用导航系统(选配件)在彩色图像上能迅速到达感兴趣的区域。

大型样品室和样品台。

能容纳大型、较重的样品,可装载**尺寸为200 mm(φ)× 80 mm( H)、重达2 kg 的样品。

**几何设计的分析接口。

多个接口可以安装EDS、EBSD 和WDS 等附件, EDS 和EBSD 处于同一平面,此外,还能安装两个相隔180 度的EDS 检测器用于高通量的显微分析。





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