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KLA Alpha-Step®D-500探針式輪廓儀
KLA Alpha-Step®D-500探針式輪廓儀能夠測量幾納米到1200微米高的2D臺階。D-500也支持在研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)節(jié)中對粗糙度、彎曲度和應(yīng)力...
型號:
所在地:香港特別行政區(qū)
參考價:
¥50000更新時間:2025/3/17 10:32:02
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Alpha-Step®D-500KLA-Tencor探針式輪廓儀臺階儀接觸式輪廓儀
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KLA Tencor® P-17探針式輪廓儀
KLA Tencor® P-17探針式輪廓儀為生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)節(jié)提供從幾納米到一毫米的臺階高度測量功能。該系統(tǒng)支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進行二維...
型號:
所在地:香港特別行政區(qū)
參考價:
¥50000更新時間:2025/3/17 10:30:38
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KLAP-17探針式輪廓儀臺階儀粗糙度測量
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KLA Alpha-Step® D-600探針式輪廓儀
半導(dǎo)體薄膜生長表面檢測KLA Alpha-Step® D-600探針式輪廓儀能夠測量從幾納米到 1200微米的2D和3D臺階高度。D-600 還支持2...
型號:
所在地:香港特別行政區(qū)
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¥50000更新時間:2025/3/17 10:27:03
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科磊探針式輪廓儀Alpha-Step® D-600kla半導(dǎo)體表面測量
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KLA Filmetrics F40薄膜厚度測量儀
KLA Filmetrics F40薄膜厚度測量儀通過將顯微鏡轉(zhuǎn)變?yōu)楸∧y量工具,實現(xiàn)小至1微米光斑的厚度和折射率測量。該設(shè)備配備集成彩色攝像機,可在1秒內(nèi)完成...
型號:
所在地:香港特別行政區(qū)
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¥50000更新時間:2025/3/10 7:59:43
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KLA Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀Filmetrics F40薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀Filmetrics F40白光干涉測厚儀
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KLA Filmetrics F30薄膜厚度測量儀
KLA Filmetrics F30薄膜厚度測量儀通過實時監(jiān)控沉積過程,提供高精度、快速且非侵入式的測量解決方案,適用于多種半導(dǎo)體和電介質(zhì)材料。其主要特點包括提...
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所在地:香港特別行政區(qū)
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¥50000更新時間:2025/3/10 7:53:14
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KLA Filmetrics F30薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀白光干涉測厚儀Filmetrics F30薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量系統(tǒng)
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KLA Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀
KLA Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀系列,涵蓋近紅外光波長范圍980 nm、1310 nm及1550 nm,能夠測量從15納米至3毫米的薄膜厚...
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所在地:香港特別行政區(qū)
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¥50000更新時間:2025/3/10 7:42:31
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KLA Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀F3-sX薄膜厚度測量儀白光干涉測厚儀Filmetrics F3-sX
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KLA Filmetrics F3-CS快速厚度測量系統(tǒng)
KLA Filmetrics F3-CS快速厚度測量系統(tǒng)專為微小視野及樣品設(shè)計,支持快速、簡易的厚度測量,適用于聚對二甲苯和真空鍍膜層等。其具備自動校正功能,可...
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所在地:香港特別行政區(qū)
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¥50000更新時間:2025/3/10 7:34:59
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KLA Filmetrics F3-CS快速厚度測量系統(tǒng)快速厚度測量系統(tǒng)薄膜厚度測量儀白光干涉測厚儀F3-CS快速厚度測量系統(tǒng)
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KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀
KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀通過同時測量反射和透射光譜,實現(xiàn)真空鍍膜的快速、精確分析。該設(shè)備價格合理,具備分析、FWHM確定及顏色分...
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所在地:香港特別行政區(qū)
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¥50000更新時間:2025/3/10 7:28:14
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Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀白光干涉測厚儀Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量
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KLA Filmetrics F10-HC薄膜厚度測量儀
KLA Filmetrics F10-HC薄膜厚度測量儀是一款專為測量單層和多層硬涂層設(shè)計的儀器,基于F20平臺,采用光譜反射分析技術(shù),提供快速準確的測量結(jié)果。...
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所在地:香港特別行政區(qū)
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¥50000更新時間:2025/3/10 7:21:12
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Filmetrics F10-HC薄膜厚度測量儀汽車薄膜厚度測量白光干涉測厚儀F10-HC薄膜厚度測量儀
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KLA Filmetrics F20臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)
KLA Filmetrics F20臺式薄膜厚度測量系統(tǒng);經(jīng)濟實惠的膜厚儀系列在幾秒鐘內(nèi)就能完成高精度的薄膜厚度測量。這些易于使用的儀器與智能軟件和一系列附件和...
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所在地:香港特別行政區(qū)
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¥50000更新時間:2025/3/10 7:12:59
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Filmetrics F20Filmetrics F20白光干涉測厚儀薄膜厚度測量儀臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)
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KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測量儀
KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測量儀便攜式反射儀帶有內(nèi)部光纖,利用具有長壽命、低功率光源可以測量曲面上的減反射涂層厚度。以極低的價格在幾秒...
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所在地:香港特別行政區(qū)
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¥50000更新時間:2025/3/10 7:02:14
對比
Filmetrics F10-ARcKLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測量儀白光干涉測厚儀薄膜厚度測量儀Filmetrics F10-ARc白光干涉測厚儀
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KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測量儀
KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測量儀便攜式反射儀帶有內(nèi)部光纖,利用具有長壽命、低功率光源可以測量曲面上的減反射涂層厚度。以極低的價格在幾秒鐘...
型號:
所在地:香港特別行政區(qū)
參考價:
¥50000更新時間:2025/3/10 2:57:44
對比
KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測量儀KLA Filmetrics白光干涉測厚儀薄膜厚度測量儀光學(xué)薄膜測量設(shè)備
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KLA NanoFlip納米壓痕儀
KLA NanoFlip納米壓痕儀可在真空和氣氛條件下,準確、精密地進行硬度、模量、屈服強度、剛度和其它納米力學(xué)性能的測試。無論在掃描電子顯微鏡(SEM)或是聚...
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¥50000更新時間:2025/3/10 2:30:38
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KLA NanoFlip納米壓痕儀納米壓痕儀納米劃痕儀NanoFlip納米壓痕儀納米檢測
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KLA iNano®納米壓痕儀
KLA iNano®納米壓痕儀使測量薄膜、涂層和小體積材料變得更簡單。準確、靈活、用戶友好的儀器可以進行多樣的納米材料力學(xué)測試,包括壓痕、硬度、劃痕和...
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¥50000更新時間:2025/3/10 2:05:23
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KLA iNano®納米壓痕儀inano納米壓痕儀納米劃痕儀inano壓痕儀
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KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀
KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀是一種易于使用的納米級力學(xué)測試工具,可快速提供精確的定量分析結(jié)果。G200X系統(tǒng)可處理從硬質(zhì)...
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所在地:香港特別行政區(qū)
參考價:
¥50000更新時間:2025/3/10 1:49:48
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KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀納米壓痕儀納米劃痕儀半導(dǎo)體劃痕壓痕測量
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KLA Candela® 7100系列缺陷檢測和分類系統(tǒng)
KLA Candela® 7100系列缺陷檢測和分類系統(tǒng)為硬盤驅(qū)動器基板和介質(zhì)提供了高級缺陷檢測和分類功能。7100系列硬盤驅(qū)動器缺陷檢測和分類系統(tǒng)以...
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¥50000更新時間:2025/3/9 23:09:27
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KLA Candela® 7100缺陷檢測分類系統(tǒng)晶圓缺陷檢測和分類系統(tǒng)晶圓缺陷檢測系統(tǒng)晶圓分類系統(tǒng)半導(dǎo)體缺陷檢測和分類系統(tǒng)
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KLA Candela® 6300系列光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)
KLA Candela® 6300系列光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)為金屬或玻璃數(shù)據(jù)存儲基板和成品介質(zhì)提供了先進的量測和檢測功能。隨著數(shù)據(jù)存儲制造商努力通過進一步...
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所在地:香港特別行政區(qū)
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¥50000更新時間:2025/3/9 22:57:56
對比
KLA Candela® 6300光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)光學(xué)表面缺陷表面缺陷檢測光學(xué)檢測儀
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KLA Zeta™-388光學(xué)輪廓儀
KLA Zeta™-388光學(xué)輪廓儀提供3D量測和成像功能,與集成防震臺和晶圓操作系統(tǒng)結(jié)合,可實現(xiàn)全自動測量。該系統(tǒng)采用ZDot™ 技術(shù)...
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所在地:香港特別行政區(qū)
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¥50000更新時間:2025/3/9 20:00:22
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KLA Zeta™-388光學(xué)輪廓儀臺階儀輪廓儀光學(xué)輪廓儀kla輪廓儀
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KLA Zeta™-300光學(xué)輪廓儀
KLA Zeta™-300光學(xué)輪廓儀可提供3D 量測和成像功能,與集成式防震臺和靈活的配置相結(jié)合,可以處理更大的樣品。該系統(tǒng)采用ZDot&trade...
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¥50000更新時間:2025/3/9 19:53:24
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KLA Zeta™-300光學(xué)輪廓儀Zeta™-300光學(xué)輪廓儀光學(xué)輪廓儀白光干涉儀粗糙度儀
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KLA Zeta™-Solar光學(xué)輪廓儀
全新的KLA Zeta™-Solar光學(xué)輪廓儀專為滿足優(yōu)良金屬化工藝中對于細柵線、接觸墊和主柵線的測量需求而設(shè)計。更為優(yōu)良的3D 成像技術(shù),以及最大...
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¥50000更新時間:2025/3/7 15:39:58
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KLA Zeta™-Solar光學(xué)輪廓儀eta™-Solar光學(xué)輪廓儀光學(xué)輪廓儀輪廓儀白光干涉儀