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KLA iNano®納米壓痕儀使測(cè)量薄膜、涂層和小體積材料變得更簡(jiǎn)單。準(zhǔn)確、靈活、用戶友好的儀器可以進(jìn)行多樣的納米材料力學(xué)測(cè)試，包括壓痕、硬度、劃痕和...

KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀是一種易于使用的納米級(jí)力學(xué)測(cè)試工具，可快速提供精確的定量分析結(jié)果。G200X系統(tǒng)可處理從硬質(zhì)...

KLA Candela® 7100系列缺陷檢測(cè)和分類系統(tǒng)為硬盤驅(qū)動(dòng)器基板和介質(zhì)提供了高級(jí)缺陷檢測(cè)和分類功能。7100系列硬盤驅(qū)動(dòng)器缺陷檢測(cè)和分類系統(tǒng)以...

KLA Candela® 6300系列光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)為金屬或玻璃數(shù)據(jù)存儲(chǔ)基板和成品介質(zhì)提供了先進(jìn)的量測(cè)和檢測(cè)功能。隨著數(shù)據(jù)存儲(chǔ)制造商努力通過進(jìn)一步...

KLA Zeta™-388光學(xué)輪廓儀提供3D量測(cè)和成像功能，與集成防震臺(tái)和晶圓操作系統(tǒng)結(jié)合，可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)量。該系統(tǒng)采用ZDot™ 技術(shù)...

KLA Zeta™-300光學(xué)輪廓儀可提供3D 量測(cè)和成像功能，與集成式防震臺(tái)和靈活的配置相結(jié)合，可以處理更大的樣品。該系統(tǒng)采用ZDot&trade...

全新的KLA Zeta™-Solar光學(xué)輪廓儀專為滿足優(yōu)良金屬化工藝中對(duì)于細(xì)柵線、接觸墊和主柵線的測(cè)量需求而設(shè)計(jì)。更為優(yōu)良的3D 成像技術(shù)，以及最大...

KLA Zeta™-20光學(xué)輪廓儀是一個(gè)高度集成的光學(xué)輪廓顯微鏡，可在緊湊、耐用的包裝下提供3D量測(cè)和成像功能。該系統(tǒng)采用ZDot™ 技...

KLA Filmetrics® Profilm3D® 光學(xué)輪廓儀和 Profilm3D-200 光學(xué)輪廓儀經(jīng)濟(jì)實(shí)惠，是一套非接觸式基于白光干...

KLA HRP®-260 探針式輪廓儀是一個(gè)高分辨率、自動(dòng)化探針式輪廓儀，提供從幾納米到 300 微米的臺(tái)階高度測(cè)量功能。P-260支持臺(tái)階高度、粗糙...

KLA Tencor® P-170 探針式輪廓儀是一款自動(dòng)化輪廓儀，可為生產(chǎn)環(huán)節(jié)提供從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量功能。該系統(tǒng)支持對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、...