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LAP-S2000喷雾全自动激光粒度分析仪
我公司视“打造国产稳定的激光粒度仪器"为己任，以科技创品牌、质量闯市场、信誉赢天下为方针，全力打造超稳定、高性价比的国产激光粒度仪器。
LAP-S2000采用分体式设计，适用范围更加宽泛。性能更加稳定、量程更大、适应各种复杂的测试环境，同时LAP-S2000进行了防尘处理。
LAP-S2000喷雾激光粒度分析仪主要性能特点：
LAP-S2000采用了分体式结构，可测试远距离样品， LAP-S2000采用了大平台，即使一体式使用也能满足0.1米到10米的距离上正常测试。
*的光路设计： LAP-S2000采用了夫琅禾费衍射原理和典型的平行光路设计，配备了大功率的半导体激光器；*的高密度探测单元，让LAP-S2000拥有了*的小颗粒测试能力，LAP-S2000在1μm～2000μm内无缝测试。同时LAP-S2000又加入了光路自动调整装置，方便操作的同时又延长了仪器的适用寿命。
大功率半导体激光器：LAP-S2000采用了大功率的半导体激光器，增强了仪器的分辨能力，使小颗粒也无处藏身。
光路自动校对：LAP-S2000在喷雾粒度仪中加入了自动对中功能，LAP-S2000加入的光路自动调整系统，保证了仪器测量的稳定性、准确性。同时大量减少操作者的工作强度。
进口的镜头：LAP-S2000采用了日本佳能作为主镜头，畸变小成像高，接收端采用了直径150毫米大口径长焦距镜头，颗粒探测更加准确。
超宽量程：LAP-S2000量程达到了1μm～2000μm。
辅光定位：LAP-S2000加入了辅光定位功能，定位时发射端两束激光同时发出，接收端双点吻合后接收端即可启动光路自动调整系统，大大简化了调整难度。
强大的分析软件：强大的分析软件可以随时记录所有激光束的内所有雾滴的粒度分布。在激光束内移动喷雾测试结果可以被连续记录和统计分析。
主要技术参数：
规格型号 | LAP-S2000 | |
执行标准 | ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008 | |
测试范围 | 1μm-2000μm | |
探测器通道数 | 86 | |
准确性误差 | <1%（国家标准样品D50值） | |
重复性误差 | <1%（国家标准样品D50值） | |
进样方式 | 开放式 | |
光路对中方式 | 自动对中，仪器自动调整光路，电脑软件一键自动完成 | |
操作模式 | 软件操作、自动测试 | |
仪器结构 | 分体式或导轨式可选 | |
分体式导轨（选配） | 分体式仪器，测试区域在6米以内可以选配导轨，光路更加稳定 | |
激光器参数 | LD泵浦激光器 λ= 532nm, 功率1-40mw可调 | |
关键参数 | 测量区 | 分体式：仪器0.1到10米范围可正常测试 |
导轨式：仪器0.1到6米范围可正常测试 | ||
镜头 | 进口佳能高性能镜头 | |
镜头保护 | 气幕气流式双重?；?/span> | |
进样方式 | 喷射（包含雾滴和固体粉末） | |
操作模式 | 电脑操作 | |
尺寸 | 发射端尺寸：950*320*670 接收端尺寸：250*360*520 | |
测试速度 | <1min/次 | |
重量 | 25Kg | |
软件功能 | |
分析模式 | 包括自由分布、R-R分布和对数正态分布、按目分级统计模式等，满足不同行业对被测样品粒度统计方式的不同要求 |
统计方式 | 体积分布和数量分布，以满足不同行业对于粒度分布的不同统计方式 |
统计比较 | 可针对多条测试结果进行统计比较分析，可明显对比不同批次样品、加工前后样品以及不同时间测试结果的差异，对工业原料质量控制具有很强的实际意义 |
自行DIY | 用户自定义要显示的数据，根据粒径求百分比、根据百分比求粒径或根据 |
显示模板 | 粒径区间求百分比，以满足不同行业对粒度测试的表征方式。径距、一致性、区间累积等等 |
测试报告 | 测试报告可导出Word、Excel、图片（Bmp）和文本（Text）等多种形式的文档，满足在任何场合下查看测试报告以及科研文章中引用测试结果 |
多语言支持 | 中英文语言界面支持，还可根据用户要求嵌入其他语言界面。 |
测试报告：
