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貨物所在地：上海上海市
更新時(shí)間：2025-03-11 21:00:45
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Park NX12可用于任何一個(gè)項(xiàng)目
NX系列的眾多掃描模式和模塊化設(shè)計(jì)使它可輕松地適應(yīng)任何一個(gè)掃描探針顯微鏡的需求。
- 標(biāo)準(zhǔn)成像
真正的非接觸模式AFM
接觸模式AFM
側(cè)向力顯微鏡（LFM)
相位成像
輕敲式AAFM
-電性能
導(dǎo)電AFM
I-V譜線
掃描開(kāi)爾文探針顯微鏡（SKPM/KPM)
高電壓SKPM
掃描電容顯微鏡（SCM)
掃描電阻顯微鏡（SSRM)
掃描隧道顯微鏡 （STM)
掃描隧道光譜 （STS)
時(shí)間分辨的光電流測(cè)繪 （Tr-PCM)
- 磁性能
磁力顯微鏡 （MFM)
可調(diào)外加磁場(chǎng)MFM
-化學(xué)性能
掃描電化學(xué)池顯微鏡（SECCM)
掃描電化學(xué)顯微鏡 （SECM)
電化學(xué)顯微鏡(EC-STM和EC-AFM)
功能化探針的化學(xué)力顯微鏡
-熱性能
掃描熱感顯微鏡(SThM)
-光學(xué)性能
-介電/壓電性能
靜電力顯微鏡 （EFM)
動(dòng)態(tài)接觸式靜電力顯微鏡（DC-EFM)
壓電力顯微鏡 （PFM)
高電壓PFM
-機(jī)械性能
Pinpoint納米力學(xué)映射
力調(diào)制顯微鏡 （FMM)
納米壓痕
納米刻蝕
高電壓納米刻蝕
納米操縱
壓電力顯微鏡 （PFM)
-力測(cè)量
力－距離（F-D)光譜
力－體積成像
熱噪聲法標(biāo)定彈性系數(shù)
原子力顯微鏡原子力顯微鏡原子力顯微鏡
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
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