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LED暫能熱阻量測系統(tǒng)*

說明

LED暫能熱阻量測系統(tǒng)是基于*的JEDEC Static Method測試方法（JESD51-1），通過改變電子器件的的輸入功率，使得器件產(chǎn)生溫度變化。在變化過程中，系統(tǒng)測試出晶片的瞬態(tài)溫度回應(yīng)曲線，僅在幾分之內(nèi)即可分析得到關(guān)于該電子器件全面的熱特性。本系統(tǒng)采用的是“運(yùn)行中”的即時(shí)測量的方法，結(jié)合其精密的硬件，可以快速精確捕捉到高訊噪比的溫度瞬態(tài)曲線。

LED暫能熱阻量測系統(tǒng)*

● 本系統(tǒng)由工研院研發(fā)完成，并獲得2014 百大科技研發(fā)獎（R&D 100 Awards）LED暫能熱阻量測系統(tǒng)

● 只需3分鐘，即可量測出完整的LED 封裝元件熱結(jié)構(gòu)

● 與T3ster 量測數(shù)據(jù)*，并可使用于多種封裝LED

● 彈性的架治具，重現(xiàn)性比T3ster 更好

技術(shù)規(guī)格

LED暫能熱阻量測系統(tǒng)

參考規(guī)格