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LH-373渦電流式膜厚測量儀
品牌：日本Kett
LH-373用于鋁合金、不銹鋼等非磁性金屬物上的絕緣被膜之測量?？蓪︿X合金上的陽極或硬陽處理等之薄膜，做正確的測量。
373系列皆可將資料打印或轉送計算機儲存；機體搭載有16項功能，并備有打印機、測量臺、外部輸出線及資料管理軟件供選購利用。
特色：
· 中文界面
具備中文、日文、英文、韓文四種操作語言顯示，操作簡單明了。
· 100組檢量曲線記憶容量
使用者可將所有工件分類，將檢量曲線各別建立，開機即可上使用，不需再校正。
· 測量值具查閱功能
工作現場的量測值zui多可記憶3,000筆，使用者可在「刪除數據」功能下，一一查閱每一筆測量值。
· 具統(tǒng)計平均功能
統(tǒng)計計算范圍可由使用者自行設定，統(tǒng)計計算zui大值、zui小值、平均值及標準差值。
· 具連續(xù)掃瞄測量功能
373系列膜厚計搭載「單點測量」及「連續(xù)測量」功能，廣用于各種表面狀況及排除測量爭議。
· 具資料傳輸功能
測量數值可外接打印機VZ-330(選購)或外接計算機。測量時實時傳輸或測量后一并傳輸皆可。
規(guī)格：
| LH-373渦電流式膜厚測量儀 | |
| 測量方式 | 渦電流式 |
| 測量對象 | 非磁性金屬上的絕緣被膜 |
| 測量范圍 | 0～1,200μm或0～47.0mils |
| 測頭型式 | 單點接觸定壓式（LHP-J） |
| zui小測量面積 | 5x5mm |
| 測量精度 | 50μm以下：±1μm；50μm～1,000μm：±2%；1,000μm以上:±3% |
| 分辨率 | 100μm以下：0.1μm 100μm以上：1.0μm |
| 檢量曲線 | 100組檢量曲線記憶 |
| 資料記憶數 | 約39,000筆，資料具查閱功能 |
| 測量功能 | 具單點測試、連續(xù)掃瞄測試，可測試膜厚分布變化 |
| 顯示方式 | 背光式LCD(18064dots)數位顯示zui小解析0.1μm |
| 外部輸出 | 可將資料輸出至個人計算機或打印機（RS-232C) |
| 電 源 | 單3堿性電池x4顆 |
| 電力消耗 | 80mW(當背光關閉時) |
| 電池壽命 | 約100小時(連續(xù)使用，背光關閉時) |
| 操作環(huán)境 | 0～40℃ |
| 應用功能 | 檢量線選擇、素材補正、資料刪除、資料記憶、上下限設定、統(tǒng)計計算(測量次數、平均值、標準偏差、zui大值、zui小值)、顯示選擇、日期時間、自動關機時間、背光亮度、背光時間、單位切換、資料輸出、自動批號區(qū)分、測量方式、維修模式等功能 |
| 尺 寸 | W75xD140H31(mm) |
| 重 量 | 約340g |
| 標準配件 | 標準片盒子、單3號堿性電池1.5Vx4顆、曲面固定器、攜帶皮套 |
| 專屬配件 | 鋁素材(NFE373)、標準片5片組(10μm、50μm、100μm、500μm、1,000μm) |
| 選購配備 | 標準片(配件以外的厚度)、膜厚計測臺LW-990、USB計算機傳輸線、打印機VZ-330、打印機傳輸線、RS-232C&USB轉換線、資料管理軟件LDL-02、資料管理軟件McWAVE系列 |
株式會社ケツト科學研究所
Kett Electric Laboratory
中國區(qū)總代理，：