用于晶体取向测量的 SDCOM 小型衍射仪

用于单晶（晶锭和晶圆）的材料研究、生产和质量控制的台式XRD设备。

Si | SiC | 金刚石 | AIN | GaAs | 石英 | LiNbO? | bbo | GaN 和其他一百多种材料。

SDCOM的特点

• 超快速测量：样品旋转一次（即10秒内）即可捕获所有所需的晶体取向参数

• 多种样品尺寸：可测量直径从1mm到200mm的样品

• 可对任何单晶材料进行全自动分析和取向测定

• 典型标准偏差 (Si 100)：倾角幅度＜0.01° ，倾角方向＜0.03°

• 正常运行时间：＞99%

• Theta 扫描功能：用于复杂的研究和材料表征

• 转移技术：实现一束切割光束中至多可处理6个定向好的晶体

• 可与SECS/GEM等MES集成