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北京北广精仪仪器设备有限公司>>介电常数介质损耗测试>> GDAT-A绝缘高频介电常数测定仪

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绝缘高频介电常数测定仪

绝缘高频介电常数测定仪
参考价 面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号 GDAT-A
  • 品牌 其他品牌
  • 厂商性质 生产商
  • 所在地 北京市

更新时间:2024-08-14 09:57:26浏览次数:1823

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产品简介
绝缘高频介电常数测定仪

绝缘高频介电常数测定仪工作特性

   1.Q值测量

  a.Q值测量范围:2~1023;

  b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;

c.标称误差

频率范围 25kHz~10MHz

固有误差 ≤5%±满度值的2%

工作误差≤7%±满度值的2%

频率范围10MHz~60MHz

固有误差≤6%±满度值的2%

工作误差≤8%±满度值的2%

 

 

   2.电感测量范围

14.5nH~8.14H

 

3.电容测量

直接测量范围1~460p

主电容调节范围40~500pF

准确度150pF以下±1.5pF;

150pF以上±1%

   注:大于直接测量范围的电容测量见使用方法。

   4.信号源频率覆盖范围

频率范围10kHz~60MHz

CH1   10~99.9999kHz

CH2    100~999.999kHz

CH3     1~9.99999MHz

CH4     10~60MHz

频率指示误差   3×10-5±1个字

  5.Q合格指示预置功能:预置范围:5~1000

   6.Q表正常工作条件

   a. 环境温度:0℃~+40℃;

  b.相对湿度:<80%;

  c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

   7.其他

  a.消耗功率:约25W;

   b.净重:约7kg;

   c.外型尺寸:(宽×高×深)mm:380×132×280。

 

 

绝缘高频介电常数测定仪测试注意事项

a.本仪器应水平安放;

b.如果你需要较精确地测量,请接通电源后,预热30分钟;

c.调节主调电容或主调电容数码开关时,当接近谐振点时请缓调;

d.被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短,足够粗,并应接触良好、可靠,以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差;

e.被测件不要直接搁在面板顶部,离顶部一公分以上,必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫;

f.手不得靠近试件,以免人体感应影响造成测量误差,有屏蔽的试件,屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。

2.高频线圈的Q值测量(基本测量法)

 

 

 

维修

1.新购仪器的检查

新购的仪器能先用LKI-1电感组,将各个电感在各个不同频率测试Q值,把测试的情况,例使用的电感号、测试频率Q读数、电容读数等多次测得数及测试环境条件逐一详细记录,并把记录保存起来,以供以后维修时作参考。

LKI-1电感组是测试时作辅助电感用的,不能把这些电感当作高精度的标准电感看待。随着测试环境条件不同,测得电感器Q值和分布电容可能略有不同。

2.使用和保养

高频Q表是比较精密的阻抗测量仪器,在合理使用和注意保养情况下,才能保证长期稳定和较高的测试精度。

a.熟悉本说明书,正确地使用仪器;

b.使仪器经常保持清洁、干燥;

c.本仪器保用期为18个月,如发现机械故障或失去准确度,可以原封送回本厂,免费修理。

 

 

 

 

电感器:

按测试频率要求,需要配置不同量的电感器。

例如:在1MHz测试频率时,要配250μH电感器,在50MHz测试频率时,要配0.1μH电感器等。

 

高频介质样品(选购件):
在现行高频介质材料检定系统中,检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。

该样品由人工蓝宝石,石英玻璃,氧化铝陶瓷,聚四氟乙烯,环氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm测试样品。用户可按需订购,以保证测试装置的重复性和准确性。

 

 

 

 

工作频率范围是10kHz~160MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。

绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。

同样,由测微圆筒线性电容器的电容量读数变化,通过公式计算得到介电常数。

 

主要技术指标:

2.1 tanδ和ε性能:

2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz~120MHz的tanδ和ε变化的测试。

2.1.2 tanδ和ε测量范围:

tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50

2.1.3 tanδ和ε测量精度(1MHz):

tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%

工作频率范围:50kHz~50MHz    四位数显,压控振荡器

Q值测量范围:1~1000三位数显,±1Q分辨率

可调电容范围:40~500 pF  ΔC±3pF

电容测量误差:±1%±1pF

Q表残余电感值:约20nH

 

 

 

主要技术特性:介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至zui低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。


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