覆層測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)：
★測(cè)量速度快：測(cè)量速度比其它TT系列快6倍；
★精度高 ：本公司產(chǎn)品簡(jiǎn)單校0后精度即可達(dá)到1-2%是目前市場(chǎng)上*能達(dá)到*的產(chǎn)品,其精度遠(yuǎn)高于時(shí)代等國(guó)內(nèi)同類.比EPK等進(jìn)口產(chǎn)品精度也高；
★穩(wěn)定性：測(cè)量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性優(yōu)于進(jìn)口產(chǎn)品；
★功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文；

一切以客戶為中心，為客戶提供優(yōu)質(zhì)、全面、快捷的服務(wù)，保證客戶滿意。在接到質(zhì)量信息反饋時(shí)，我們將快速處理意見，待正常運(yùn)轉(zhuǎn)后，再分析原因，明確責(zé)任。覆層測(cè)厚儀產(chǎn)品三包期為正式交貨之日起一年，對(duì)非人為造成的各類零件損壞，及時(shí)免費(fèi)更換。上海魅宇為產(chǎn)品提供必要的技術(shù)文件和產(chǎn)品出廠合格證書等相關(guān)文件。

相關(guān)產(chǎn)品透明度計(jì)

參數(shù)：
★測(cè)頭類型：F。
★測(cè)量原理：磁感應(yīng)。
★測(cè)量范圍：0-1250um。
★低限分辨力：1?m（10um以下為0.1um）。
★探頭連接方式：一體化。
★示值誤差：一點(diǎn)校準(zhǔn)（um）±[3%H 1]。
★兩點(diǎn)校準(zhǔn)（um）： ±[（1～3）%H 1]。
★測(cè)量條件：zui小曲率半徑（mm） 凸 1.5 凹9。
★基體zui小面積的直徑（mm）：ф7。
★zui小臨界厚度（mm）：0.5。
★溫濕度：0~40℃，20%RH～90%RH。
★統(tǒng)計(jì)功能：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、
標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）。
★工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）。
★測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）上下限設(shè)置。
★存儲(chǔ)能力：15 個(gè)測(cè)量值。
★打印/連接計(jì)算機(jī)：可選配打印機(jī)/不能連接電腦。
★關(guān)機(jī)方式：自動(dòng)。
★電源：二節(jié)3.6V鎳鎘電池。
★外形尺寸：150×55.5×23mm。
★重量：150g。
★基本配置：主機(jī)。
★標(biāo)準(zhǔn)片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）。
★鐵基體。
★充電器。
★可選附件。
★TA230打印機(jī)。

簡(jiǎn)介：
是一種超小型測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測(cè)量?？蓮V泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。由于該儀器體積小、測(cè)頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》。

功能特點(diǎn)：
采用了磁性測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）。

按上所述，我們認(rèn)為較為理想，數(shù)據(jù)較為穩(wěn)定，價(jià)格低且操作方便。