韩国XRF-2000H型镀层测厚仪

韩国先锋XRF-2000 测厚仪系列

测量镀种为：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等

测量的厚度范围为0.03微米～35微米。

可测单层、双层、多层、合金镀层测量，不限底料。

XRF-2000镀层测厚仪三款型号

不同型号各种功能相同

机箱容纳样品大小有以下不同要求

XRF-2000H型:测量样品高度不超过10cm  (长宽55cm)

XRF-2000L型:测量样品高度不超过3cm   （长宽55cm）

XRF-2000PCB型:测量样品高度不超3cm,PCB板

韩国XRF-2000H型镀层测厚仪?测量范围.

Au  0.03-4um

Pd  0.03-4um

Ni  0.05-25um

Ni-P 0.05-25um

Sn 0.05-80um

Ag  0.03-25um

Cr  0.05-25um

Zn  0.05-25um

ZnNi 0.05-25um

SnCu 0.05-25um

设备功能描述

兼容Microsoft Windows 操作系统

使用X荧光射线非接触非破坏快速测量膜厚层

各种样品单层至多层（5层），合金膜层均可测量

定点自动定位分析

光径对准全自动

影像重叠功能

自动显示测量参数

彩色区别测量数据

多重统计显示视窗与报告编辑应用2D/3D，任意位置测量控制Y轴全自动控制雷射对焦与自动定位系统

多种机型选择X-ray运行待命（睡眠）控制温控稳定延长校准时效全进口美日系零件价格优势及快速的服务时效

X射线镀层测厚仪韩国

韩国XRF2000X光镀层测厚仪精度控制：

*层：±5%

第二层：±8%

第三层：±15%

X射线镀层测厚仪韩国XRF2000