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详细介绍
镀层光谱仪(镀层荧光光谱仪)仪器硬件部分主要配置
1、SDD电制冷探测器:（新型探测器）
1.1. SDD电制冷探测器；分辨率：129±5e电子伏特
1.2. 放大电路?？?对样品特征X射线进行探测；把探测采集的信息,进一步放大。
2 X射线激发装置(薄铍窗光管）:
2.1. 灯丝电流最大输出：1mA；
3 高压发射装置:
3.1. 电压最大输出： 50kV；
3.2. 最小5kv可控调节
3.3. 自带电压过载保护
4 一体化真空系统
4.1 具有低震动、低噪音、自?；ぜ俺樗倏斓扔帕夹阅艿恼婵毡孟低?；
4.2 几何抽速：60 L/min(50Hz)
4.3 极限压力：6.7×10-2 Pa
5 多道分析器:
5.1. 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件；
5.2 最大道数： 4096；
5.3 包含信号增强处理功能；
6 5光路过滤模块
6.1 降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确；
6.2 将准直器与滤光处整合；
7 准直器自动切换?？?/strong>
7.1 多达5种选择
8 滤光片自动切换?？?/strong>
8.1五种滤光片的自由选择和切换。
9准直器和滤光片的自由组合?？?/strong>
9.1 多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。
10工作曲线自动选择?？?/strong>
10.1 自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化演绎得更好，使操作更人性，更方便。
镀层荧光光谱仪专用软件
1.1有害元素检测软件
专门针对RoHS(含卤素元素)检测而开发(含真空控制功能)，对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。
1.2功能介绍
※专门应对欧盟RoHS指令中六种物质涉及的五种元素 Cd, Pb, Hg, Br, Cr和卤素元素Cl测试，测量时间为60-300秒(可调)
※操作界面简洁直观，使用方便，无需专业人士操作
2元素分析检测软件
2.1 元素分析范围：从钠(Na)到铀(U)；
2.2 一次可同时分析24个元素；
2.3 分析检出限可达1PPM；
2.4 含量分析范围一般为1ppm—99.9%；
2.5 软件自带多种图像处理和分析计算方法；
2.6 多次测量重复性可达0.1%；
2.7 长期工作稳定性为0.1%；
2.8 能量分辨率为129±5eV；
2.9 软件自带多种图像处理和计算方法；
2.10 应用领域：合金(如不锈钢、铜合金、铝合金等合金)所含元素含量分析(如Cu、Zn、Pb、Sn、Fe、Ni、Mn、Sb、Al、Si、Cr、Mo、Co、Ti、V等元素)；
3 镀层厚度测试软件
3.1 元素分析范围：从钠(Na)到铀(U)；
3.2 一次可同时分析3层以上镀层；
3.3 分析检出限可达0.01μm；
3.4 分析厚度一般为0.1μm到50μm之间；
3.5 多次测量重复性可达0.1μm(对于小于1μm的最外层镀层)；
3.6 长期工作稳定性为0.1μm(对于小于1μm的最外层镀层)；
3.7 配置小孔准直器，测试光斑在0.2mm以内；
3.8 探测器能量分辨率为129±5eV；
3.9 应用领域:金属电镀层厚度的测量,如Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu等；
※可自动选择适合的校准曲线，测量更方便，更准确
※中英文界面自动切换，并具有第三方语言订制功能
※自动校准仪器
※自带样品材质定性分析，防止手动用户选择错误曲线
※多种报告形式打印
※可同时显示多个光谱图
※仪器测试参数及真空度实时显示，所有掌控一目了然
※新型的机芯温度监控技术，保证X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。
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